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特長
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AD570は、最新の集積回路設計および処理技術を採用しています。逐次比較型機能の製造にI2L（集積化インジェクション・ロジック）処理技術を採用し、ウェハー段階で高安定SiCr薄膜抵抗ラダー・ネットワークにレーザー・トリミング（LWT）を施し、さらに、温度補正された埋め込みツェナー・リファレンスを内蔵しているため、低価格で8ビットの完全精度を保証します。
AD570は＋5Vおよび－15Vの電源で動作し、0～＋10Vユニポーラ、または±5Vバイポーラのアナログ入力を受け入れます。ユニポーラまたはバイポーラ入力は外部から選択可能です。BLANKおよびCONVERT入力をローに駆動すると、スリーステート出力がハイ・インピーダンス状態に入り、変換を開始します。変換が終了すると、DATA READYラインがローになり、データを出力します。BLANKおよびCONVERT入力をハイにすると、出力がスリーステート状態になり、AD570は次の変換動作の準備に入ります。AD570は、ノー・ミスコードの真の8ビット変換を約25µsで実行します。
AD570には2つのバージョンがあります。AD570Jは0～＋70℃、AD570Sは－55～＋125℃の温度範囲でそれぞれ仕様規定されています。両バージョンとも、各温度範囲で完全な8ビット精度およびノー・ミスコードを保証しています。
製品のハイライト- AD570は全機能内蔵の8ビットA/Dコンバータです。変換を完遂するために一切の外付け部品を必要としません。±0.8%（8ビットでの2ＬＳＢ）のフルスケール・キャリブレーション精度は、外部トリマの使用無しで達成されます。
- AD570はシングルチップ・デバイスで、最も最新のICプロセス技術を採用しています。従って、ユーザーは、モノリシック構造固有の信頼性と低価格で、自由に真の高精度 部品を持つことになります。
- AD570は、ユニポーラ（0V～+10V）またはバイポーラ（-5V～+5V）のどちらのアナログ入力も、グランドおよび動作信号ピンによって、入力することができます。
- このデバイスは、真の8ビット精度を提供し、動作温度範囲全体にわたって、ミッシング・コード無しが保証されます。
- 動作は、-15Vと+5 Vの電源電圧で保証されています。このデバイスは、-12Vの電源電圧でも動作します。
- またAD570は、MIL-STD-883C、クラスBで処理された製品も入手可能となっています。AD570SD/883Bのミリタリ・データシトはアナログ・デバイセズのミリタリ製品デー タブックに含まれています。
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よく聞かれる質問（FAQ）
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AD570
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よく聞かれる質問
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アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ･デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。
本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。
なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
ドキュメント
データシート 1
アプリケーション・ノート 2
よく聞かれる質問 1
| 製品モデル | ピン／パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
|---|---|---|---|
| 5962-8680201VA |
18-Lead Side-Brazed CerDIP
|
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| AD570JD |
18-Lead Side-Brazed CerDIP
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| AD570SD |
18-Lead Side-Brazed CerDIP
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| AD570SD/883B |
18-Lead Side-Brazed CerDIP
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- 5962-8680201VA
- ピン／パッケージ図
-
18-Lead Side-Brazed CerDIP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
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HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- AD570JD
- ピン／パッケージ図
-
18-Lead Side-Brazed CerDIP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- AD570SD
- ピン／パッケージ図
-
18-Lead Side-Brazed CerDIP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- AD570SD/883B
- ピン／パッケージ図
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18-Lead Side-Brazed CerDIP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
4 9, 2018
- 16_0026
Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices
5962-8680201VA
AD570SD/883B
6 6, 2012
- 12_0066
Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite
5962-8680201VA
AD570SD/883B
4 26, 2012
- 12_0004
AD571/AD570 Conversion from 100mm Bipolar Process to 150mm Bipolar process
5962-8680201VA
AD570JD
AD570SD
AD570SD/883B
11 9, 2011
- 11_0050
Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines
5962-8680201VA
AD570JD
AD570SD
AD570SD/883B
11 9, 2011
- 11_0182
Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines
5962-8680201VA
AD570JD
AD570SD
AD570SD/883B
9 5, 2012
- 12_0066
Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
4 9, 2018
- 16_0026
Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices
6 6, 2012
- 12_0066
Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite
5962-8680201VA
AD570SD/883B
4 26, 2012
- 12_0004
AD571/AD570 Conversion from 100mm Bipolar Process to 150mm Bipolar process
5962-8680201VA
AD570JD
AD570SD
AD570SD/883B
11 9, 2011
- 11_0050
Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines
11 9, 2011
- 11_0182
Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines
9 5, 2012
- 12_0066
Add capacity for Burn In of Hermetic, 883 & QMLQ/Class B devices at TSSI Cavite