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よく聞かれる質問（FAQ）
特長
- 初期精度：Aグレード：±0.70%（max）、Bグレード：±0.35%（max）
- 最大温度係数：、Aグレード：、50ppm/℃、Bグレード：25 ppm/℃
- CLOAD=50nF～10μF
- 出力電流：+4 mA/-2 mA
- 低動作電流：80μA (typ)
- 出力ノイズ：6μVp-p＠1.0V出力
- 入力範囲：2.0 V～18 V
- 動作温度範囲：-40℃～+125℃
- 小型、鉛フリーSOT-23パッケージ
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工業用温度範囲は-40℃～+125℃で供給され、ADR130は小型TSOT-23パッケージに収められています。
0.5Vの出力時は、SET（5ピン）をVOUT（4ピン）に結んでください。1.0 Vの出力時は、SET（5ピン）をGND（2ピン）に結んでください。
| ADR130の全グレード |
|||
| モデル名 |
Vout |
精度 |
温度係数（ppm/℃） |
|
ADR130A |
0.5/1.0V |
±3.5mV |
50ppm/°C |
| ADR130B |
0.5/1.0V |
±1.75mV |
|
アプリケーション
- バッテリ駆動の計測機器
- ポータブル医用機器
- 通信用インフラストタクチャ装置
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よく聞かれる質問（FAQ）
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ADR130
資料
Filters
1つが該当
-
すべて
-
ユーザ・ガイド
-
データシート
-
すべて
-
English
データシート
1
ユーザ・ガイド
1
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利用上の注意
アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ･デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。
本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。
なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
ドキュメント
| 製品モデル | ピン／パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
|---|---|---|---|
| ADR130AUJZ-REEL7 |
6-Lead TSOT
|
|
|
| ADR130BUJZ-REEL7 |
6-Lead TSOT
|
|
- ADR130AUJZ-REEL7
- ピン／パッケージ図
-
6-Lead TSOT
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADR130BUJZ-REEL7
- ピン／パッケージ図
-
6-Lead TSOT
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
9 7, 2017
- 17_0079
Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing
ADR130AUJZ-REEL7
製造中
1 26, 2010
- 10_0007
Halogen Free Material Change for TSOT Products
ADR130AUJZ-REEL7
製造中
ADR130BUJZ-REEL7
製造中
5 27, 2009
- 06_0083
ADI Silicon Valley Second-Generation High Voltage Bipolar Process (HVBP2) Fab/Trim/Probe Transfer.
ADR130AUJZ-REEL7
製造中
ADR130BUJZ-REEL7
製造中
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
9 7, 2017
- 17_0079
Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing
1 26, 2010
- 10_0007
Halogen Free Material Change for TSOT Products
ADR130AUJZ-REEL7
製造中
ADR130BUJZ-REEL7
製造中
5 27, 2009
- 06_0083
ADI Silicon Valley Second-Generation High Voltage Bipolar Process (HVBP2) Fab/Trim/Probe Transfer.
ソフトウェアおよび製品のエコシステム
評価用キット 1
EVAL-ADMX1002
超低歪み信号発生器測定モジュール
製品の詳細
ADMX1002は、超低歪み、正弦波、高解像度の任意波形発生器です。この高性能モジュールは、独自のデジタル・プリディストーション・アルゴリズムの採用により、信号の歪みを、高性能のDAC（D/Aコンバータ）やアンプのみが達成できるレベル以下に低減します。その差動出力は、高性能ADC（A/Dコンバータ）、オーディオ・コーデック、その他のオーディオICやシステムのテストで必要になることが多いコモンモード・レベルに合わせて設定できます。容易に導入可能なSPIインターフェースとスモール・フォーム・ファクタにより、ADMX1002は、テスト・システムへの組み込みが容易にでき、測定や特性評価用の作業台でも簡単に使用できます。
アプリケーション
- ハイエンド・オーディオのテスト
- A/Dコンバータの特性評価およびテスト
- センサーおよびトランスジューサのテスト
- 周波数応答およびネットワークの解析
- ATE（自動試験装置）
