AD1671
製造中12ビットA/Dコンバータ、1.25MSPS、全機能内蔵型、モノリシック
- 製品モデル
- 3
- 1Ku当たりの価格
- 最低価格：$118.29
製品情報
- 変換時間：800ns
- 1.25MHzスループット・レート
- 全機能内蔵：S＆Hアンプ、電圧リファレンス
- 低消費：570mW
- ノー・ミッシング・コード保障
- ピン設定による入力電圧範囲
- SNAD：70dB（fIN＝100kHz）
- 2の補数またはオフセット・バイナリー出力データ
- 28ピンDIPと28ピンSOパッケージ
- レンジはずれインジケータ
AD1671は、高性能のサンプル / ホールド・アンプ（SHA）と電圧リファレンスを内蔵したモノリシック12ビット、1.25MSPSのA/Dコンバータ（ADC）です。動作温度範囲の全域でノー・ミスコードを保証します。統合された高速バイポーラ / CMOSプロセスと新しいアーキテクチャの組み合わせにより、従来のハイブリッド構成製品よりも大幅に優れた高速および低消費電力性能を実現しました。また、高信頼性のモノリシック構造の採用により、ハイブリッド設計製品よりもシステムの信頼性が向上、低価格化も実現しました。
高速セトリング入力のサンプル / ホールド・アンプ（SHA）は、入力信号（フルスケールまで）を連続的に切り替える多チャンネル・システムのサンプリングにも適していますが、ナイキスト・レートまでの周波数、およびナイキスト・レートを超える周波数でのシングル・チャンネル入力のサンプリングにも適しています。リファレンス出力 / 入力両方のピンを備えているため、内部電圧リファレンスをシステム電圧リファレンスとして使用できます。アプリケーションのDC精度および温度ドリフト条件に適合するために、外部電圧リファレンスを選択することも可能です。
AD1671は、変換サイクルの最初の部分で発生しやすい誤差に対するデジタル誤差補正機能を備えるサブレンジング・フラッシュ変換技術を採用しています。オンチップのタイミング・ジェネレータは、4つの内部フラッシュ・サイクルごとにストローブ信号パルスを供給します。制御には、1つのENCODEパルスを使用します。デジタル出力データは、2の補数またはオフセット・バイナリの出力フォーマットです。アウトオブレンジ信号はオーバーフロー状態を示します。この信号を最上位ビットとともに使用して、ローまたはハイのオーバーフローを決定できます。
AD1671の高い性能は、リニア・セクションへの高速、ローノイズのバイポーラ回路の使用、ロジック・セクションへの低消費電力CMOS回路の使用によって実現しました。アナログ・デバイセズ社のABCMOS-1プロセスでは、高速バイポーラ・デバイスと2ミクロンCMOSデバイスをシングル・チップ上に集積化します。レーザー・トリミングされた薄膜抵抗を使用し、精度と温度安定性を実現しています。
AD1671には2つの性能別グレードがあり、3つの温度範囲に対応しています。JおよびKグレードは0～＋70℃の温度範囲で動作し、Aグレードは－40～＋85℃の温度範囲で動作します。また、Sグレードは－55～＋125℃の温度範囲に対応します。
ドキュメント
データシート 2
アプリケーション・ノート 1
技術記事 1
よく聞かれる質問 1
| 製品モデル | ピン／パッケージ図 | 資料 | CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル |
|---|---|---|---|
| 5962-9312601MXA | 28 ld CerDIP | ||
| AD1671JQ | 28 ld CerDIP | ||
| AD1671KQ | 28 ld CerDIP |
| 製品モデル | 製品ライフサイクル | PCN |
|---|---|---|
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4 9, 2018 - 16_0026 Qualify TeamQuest Technology, Inc. for Burn-in and Life Test of Military and Aerospace Devices |
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| 5962-9312601MXA | ||
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11 7, 2012 - 12_0199 Qualification of New Conductive Silver-Filled Glass Die Attach Adhesive for Cerdip and Ceramic Flatpack (Cerpack) Packages. |
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| 5962-9312601MXA | ||
| AD1671JQ | ||
| AD1671KQ | ||
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11 9, 2011 - 11_0050 Transfer of ADI Hermetics Assembly location from Paranaque, Manila to General Trias, Cavite Philippines |
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| 5962-9312601MXA | ||
| AD1671JQ | ||
| AD1671KQ | ||
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11 9, 2011 - 11_0182 Test Site Transfer from Analog Devices Philippines Inc in Paranaque to Analog Devices General Trias in Cavite, Philippines |
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| 5962-9312601MXA | ||
| AD1671JQ | ||
| AD1671KQ | ||
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2 1, 2010 - 10_0020 Test Solutions Services, Inc.(TSSI) as Subcontractor Burn-in Facility. |
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| 5962-9312601MXA | ||
これは最新改訂バージョンのデータシートです。