任意に振幅する8つの高電圧信号の同時デジタル化
多くの一般的な監視および制御アプリケーションでは、複数のアナログ信号を同時にサンプルしてデジタル化し、デジタル領域の信号間で時間領域の相関と周波数領域の位相関係を維持することが求められます。LTC2348-18はこれらのアプリケーション向けに特に設計されています。このデバイスは、高性能18ビット逐次比較レジスタ(SAR)A/Dコンバータ(ADC)を使って、8チャネルの高電圧入力信号を同時にサンプルし、それらをデジタル化します。優れた直線性、ノイズ性能、DC精度、同相電圧除去比、およびアクティブ・クロストークを提供し、1チャネル当たり200kspsのスループットで全チャネルの変換を行います。
性能自体にとどまらず、LTC2348-18は柔軟に使いやすく設計されています。IN+/IN-アナログ入力対は同相範囲の広い差動です。つまり、IN+ ピンとIN- ピンは相互に任意の関係で振幅することができます。実際のアプリケーションでの利点をイメージするには、標準的ベンチトップ型電圧計を使ってDC電圧差を測定するのと大差ない方法で、コンバータを使ってシステム内の任意の2点間の時間的に変化する電圧差を測定することを思い浮かべるとよいでしょう。これにより、使用される信号とコンバータの間に必要な信号コンディショニングを大幅に簡略化することができます。
他の特長として、変換単位で設定される各チャネルのアナログ入力範囲の独立したSoftSpan制御、ピンで選択できるSPI CMOSとLVDSのシリアルI/Oインタフェース・オプションがあり、既存のデジタル・システムとの統合が容易です。
性能自体にとどまらず、LTC2348-18は柔軟に使いやすく設計されています。IN+/IN-アナログ入力対は同相範囲の広い差動です。つまり、IN+ ピンとIN- ピンは相互に任意の関係で振幅することができます。実際のアプリケーションでの利点をイメージするには、標準的ベンチトップ型電圧計を使ってDC電圧差を測定するのと大差ない方法で、コンバータを使ってシステム内の任意の2点間の時間的に変化する電圧差を測定することを思い浮かべるとよいでしょう。これにより、使用される信号とコンバータの間に必要な信号コンディショニングを大幅に簡略化することができます。
他の特長として、変換単位で設定される各チャネルのアナログ入力範囲の独立したSoftSpan制御、ピンで選択できるSPI CMOSとLVDSのシリアルI/Oインタフェース・オプションがあり、既存のデジタル・システムとの統合が容易です。