機能安全については、IC レベルの 3 つの重要な条件があります。

1. 高信頼性 – アナログ・デバイセズは、常に、最大限の信頼性を備えた製品を提供することを最も重視してきました。
2. 優れた診断機能 – ランダムまたは体系的な故障の検出。
3. 適切な品質管理システム – アナログ・デバイセズは、産業およびオートモーティブの機能安全を実現するために、高度な品質管理システムを開発してきました。

集積回路に関する機能安全技術の詳細については、最新の技術記事をご覧ください。

アナログ・デバイセズは、MEMS ベースのエアバッグ・センサーや、安全アプリケーションに使われる PLC アナログ入出力カード用 ADC/DAC のリーディング・サプライヤです。強化された IEC 61508 および ISO 26262 開発プロセスによって、この能力をさらに高めました。

故障率のデータ

アナログ・デバイセズは、信頼性に関するページ上で当社製品の FIT データを公開しています。ツールを使用して、特定製品の予想 FIT 率や、プロセス・ノード（例えば 0.18ミクロンCMOS）に基づく FIT 率を求めることができます。このツールでは 60% および 90% の信頼性レベルでデータを作成して、平均動作温度を選択できます。

また、IEC 62380、SN29500、その他の規格を使用して故障率を予想することもできます。

診断機能

使用する基準がSFF（Safe Failure Fraction: 安全側故障率）かシングルポイント障害かに関わらず、アナログ・デバイセズはお客様と協力して、安全目標を達成します。ミックスド・シグナル、MEMS、DSP のリーディング・サプライヤである当社は、CRC を使用した SPI インタフェースの保護、ヒューズとフラッシュ・メモリ、RAM 内のソフト・エラー検出のための MEMS および ECC の静電気セルフテストなど、広範な診断技術に関する豊富な経験があります。

適用 IC 開発規格

IEC 61508: アナログ・デバイセズは安全プロセスを開発し、IEC61508 の要件を満たす枠組みを会社全体で確立しました。

ISO 26262: ISO 26262 は、自動車分野における機能安全要件を規定しています。アナログ・デバイセズは安全プロセスを開発し、ISO26262 の要件を満たす枠組みを会社全体で確立しました。