ウェハ製造データ
高温動作寿命（HTOL）、故障率（FIT）、平均故障時間（MTTF）。
製品部品番号検索
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プロセステクノロジーデータ検索結果
プロセステクノロジー
製品部品番号
| ADI Overall Life-Test Data Summary | |
|---|---|
| 値は標準動作温度に基づき、60%および90%の信頼水準で表示されます。異なる動作温度の入力により、サマリー表の値は再計算されます。 | |
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有効な温度を入力してください
Values are displayed at 60% and 90% confidence levels based on standard operating temperature. The summary table will recalculate values when a different operating temperature is entered.
|
| ADI Overall Life-Test Data Summary | |
|---|---|
| Overall Sample Size | 445576 |
| Qty. Fail | 0 |
| Equivalent Device Hrs. @ 55 deg C | 72503111445 |
| FIT Rate (60% CL, 55 deg C) | 0.01 |
| MTTF (60% CL, 55 deg C) in Hrs in Hrs | 079126817323 |
| FIT Rate (90% CL, 55 deg C) | 0.03 |
| MTTF (90% CL, 55 deg C) in Hrs | 31487770868 |
| Calculations assumes 0.7 eV Activation Energy | |
| HTOL Temperature (deg C) | Duration (hrs) | Generic | Date Code | Process Technology | Sample Size | Qty Fail | Failure Mechanism |
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注記：対象となるデバイスがサンプリングされていない場合、その部品と同ファミリーのプロセス・テクノロジーの信頼性データを使用することが有効です。同じ系列内の部品はすべて同じルールで設計され、SPCにより管理され製造されるからです。
この計算で提供されるデータは、選択された製品におけるウェハ製造技術グループ全体の信頼性を反映した一般的なデータです。データは、選択された製品、または同じ技術グループを使って製造された他のアナログ・デバイセズ製品で収集された可能性があります。
このデータは、特定の製品または製品の製造に使用される製造工程の信頼性をハイレベルで評価することを目的としています。アナログ・デバイセズ製品は指定されたデータシートの規定範囲を超えて動作させるべきではなく、このデータは指定されたデータシートの規定範囲外での製品の信頼性を示すものとして使用されるべきではありません。