信頼性計算の詳細

高温動作寿命（HTOL）の加速試験条件（125℃で1,000時間または同等）で生成されたデータは、活性化エネルギーを0.7eVとするアレニウス方程式を用いて、エンドユーザーの使用条件（55℃で10年）での寿命に換算されます。カイ二乗統計分布を用いて、HTOL試験ユニット数に基づく故障率データの信頼区間（60%および90%）を算出します。

 
 
故障率 = X²/（2 . N . H. At）

ここで
X² = カイ2乗分布、値は失敗の数と信頼区間による
N = HTOLが試験したユニット数
H = HTOL試験期間
At = 試験条件から使用条件への加速係数（Ea = 0.7eV、Tuse = 55℃）
例：150℃～55℃、At = 258
135℃～55℃、At = 128
125℃～55℃、At = 77
85℃～55℃、At = 8


次に
等価デバイス時間 = N. H. At
MTTF = 1 /（故障率）
FIT =（故障率） x 1e9


この計算では、サンプルサイズが小さい場合、過度に高いFIT率となりえます。