自动化测试设备
对于需要高性能、经济高效解决方案的生产IC测试应用，ADI提供先进的集成式引脚电子(PE)、器件电源(DPS)和参数测量单元(PMU)。这些ATE专用产品以及我们的众多标准产品系列（从MEMS开关、高性能转换器到RF收发器）能够为所有半导体测试类别提供专业解决方案，包括数字SoC测试、存储器和晶圆测试、RF和毫米波测试、高压器件测试、系统级测试等等。
使用我们针对DPS和PMU以及引脚驱动器提供的交互式参数搜索表比较产品。
ATE性能出众：兼备广泛RF和出色功率的精密技术
我们在精密技术解决方案中集成了高速转换器、广泛的RF范围和Power by Linear™套件，为设计提供助力。这种整体方法可确保实现快速的原型设计、系统级创新和优异的产品性能。
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