AN-1535: 驱动碳化硅(SiC)功率开关器件的ADuM4135栅极驱动器的性能
引言
在太阳能光伏(PV)和储能应用中,提高功率密度已经成为一种趋势,另外我们还需要不断提高效率。碳化硅(SiC)功率器件提供了这个问题的解决方案。
SiC器件是宽带隙器件,能够在高于120 V dc的电压下工作,通常具有较低的漏源阻抗(RDSON)。有些器件的RDSON低至 8 mΩ,因此这些器件还能满足降低导通损耗、进而提高效率的需求。SiC器件还能达到高于100 kHz的快速开关速度,而且开关过程中的寄生电容和相关电荷也比较低。但它们也存在一些缺点,包括要求栅极驱动器具有大于100 kV/μs的较高共模瞬变抗扰度(CMTI)。另一个缺点是,SiC的漏源的较高开关频率可能导致器件栅极的振荡。在驱动较高电压的SiC器件(使用它们可以实现显著的功率密度提升)时,这些缺点可能导致问题。
作为栅极驱动器和SiC的一种组合, ADuM4135和SiC模块可以解决这些问题,如表1所示。此功率模块是一款半桥SiC器件,集电极-发射极电压额定值为1200 V,连续电流能力为75 A。其栅源电压(VGS)额定值为+20 V至-10 V,隔离额定值为2.5 kV(持续1分钟)。该模块的输入电容(CISS)为4.2 nF,反向恢复时间为25 ns。
ADuM4135栅极驱动器是一款单通道器件,在25 V的工作电压下(VDD至 VSS),典型驱动能力为7 A源电流/灌电流。最小CMTI为100 kV/μs。
实验设置
测量栅极驱动信号
高压测量通常使用差分探头,以将用户与高压环境隔离。然而,这些探头往往比标准无源探头噪声更大,可能会使测量结果失真。图2显示了隔离探头和无源探头在同一点测量时的区别。对于这些测量,高边测量通过隔离探头实现,需要与更高的电压隔离。然而,对于低边测量,使用标准无源探头可获得更准确的信号表示。图3显示了如何实现这种测量,图2显示了相应的结果。信号如下:
- VGS 是直接在功率器件栅源引脚处测得的电压。
- VDS是在功率器件漏源处测得的电压。

栅极电压控制
测试开始时,观察到栅源电压有一个急剧上升时间,这可能会产生限制性的电磁干扰(EMI)环境,从而造成问题。因此,我们决定在栅极上添加一个4.7 nF电容,使开关更加平顺。此电容直接添加在模块栅极和源极之间的引脚上。图4和图5显示了添加电容之前的VGS栅极驱动信号,可以看到摆率很陡峭。图5是图4的放大视图。图6显示了在栅极处添加电容后的响应,可以看到VGS的上升时间控制得更好。
直流链路去耦
最初,在切换时,观察到直流母线的直流输入电压上有10%到20%的纹波。此纹波如图7所示。为了减小这种纹波,我们增加了总计1100 μF的额外电容,以改善直流母线上的去耦。
测试设置
电气设置
系统测试电路的设置如图8所示。直流电压施加于半桥两端的输入,1100 µF的去耦电容添加到输入级。输出级为200 µH和128 µF的电感电容(LC)滤波器级,对输出进行滤波,传送到2 Ω至3 Ω的负载R1。表1显示了测试设置功率器件的列表。完整设置如图9所示,表2详细列出了测试中使用的设备。
| 设备 | 值 |
| U1 | 200 V 至 900 V |
| C1 | 1100 μF |
| L1 | 200 μH |
| C2 | 128 μF |
| R1 | 2 Ω 至 3 Ω |
| 设备 | 制造厂商 | 类型 |
| 示波器 | Agilent | DSO-X 3034 |
| 直流电源 | Delta Elektronika | SN660-AR-11 (两个串行) |
| 栅极驱动器板 | Watt&Well | ADUM4135-WW-FJ-01 SN07 |
| 波形发生器 | Agilent | 33522A |
| 电流探针 | Hioki | 3275 |
| 无源电压探针 | Agilent | N2863B 300MHz |
| 无源高电压探针 | Elditest | GE3421 100MHz |
测试结果
无负载测试
ADuM4135的首个修订版本(AA)已经发布。其中一个变化是:在功率金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET) Q1和Q2的栅极上添加了4.7 nF的电容。表3和表4概要显示了所观察到的结果,图10至图15显示了结果的依据。测试1和测试3分别在600 V和900 V电压及50 kHz开关频率下进行,而测试2在600 V电压及100 kHz开关频率下进行。
| 测试 | VDC (V) | 开关频率, fsw (kHz) | 占空比 (%) | 直流损耗 (W) | 图示 |
| 1 | 600 | 50 | 50 | 30 | 图10和图11 |
| 2 | 600 | 100 | 50 | 66 | 图12和图13 |
| 3 | 900 | 50 | 50 | 63 | 图14和图15 |
| 测试 | VDC (V) | fsw (kHz) | 环境温度 (°C) |
散热器温度 (°C) |
DC-DC电源温度, 高边(°C) |
DC-DC电源温度, 低边(°C) |
栅极驱动器温度, 高边(°C) |
栅极驱动器温度, 低边(°C) |
| 1 | 600 | 50 | 30 | 57 | 57 | 58 | 57 | 57 |
| 2 | 600 | 100 | 30 | 67 | 60 | 61 | 65 | 66 |
| 3 | 900 | 50 | 30 | 70 | 61 | 61 | 65 | 65 |
负载测试
ADuM4135的首个修订版本(AA)已经发布。其中一个变化是:在功率MOSFET Q1和Q2的栅极上添加了4.7 nF的电容。与上一节中无负载测试的测试设置类似,表5是观察到的结果摘要,图16至图27显示了结果的依据。测试4、测试5和测试6是在200 V电压、50 kHz开关频率和25%占空比下进行,而测试7是在600 V电压、50 kHz开关频率和25%占空比下进行。测试8和测试9分别在900 V电压及50 kHz和100 kHz开关频率下进行。
输出电流(IOUT)在输出负载电阻R1的输出端测量,而输出电 压(VOUT)就是在R1两端测得的电压。测试结果显示 VGS上有一些米勒反馈,但在SiC的栅极, VGS仍为-4 V电平。在900 V电压下,VDS上出现一些振荡,但其小于30 V的输入直流电 压。该设计表明,ADuM4135能够以优良的性能驱动SiC MOSFET。
| 测试 | VDC (V) | fsw (kHz) | 占空比 (%) | IOUT1 (A) | VOUT2 (V) | POUT3 (W) | IIN4 (A) | 图示 |
| 4 | 200 | 50 | 25 | 2 | 48 | 96 | 0.59 | 图16和图17 |
| 5 | 200 | 50 | 25 | 10 | 46 | 460 | 2.39 | 图18和图19 |
| 6 | 200 | 50 | 25 | 13.3 | 45 | 600 | 3.16 | 图20和图21 |
| 7 | 600 | 50 | 25 | 10 | 140 | 1400 | 2.42 | 图22和图23 |
| 8 | 900 | 50 | 25 | 10 | 204 | 2040 | 2.43 | 图24和图25 |
| 9 | 900 | 100 | 25 | 10 | 188 | 1880 | 2.52 | 图26和图27 |
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1 IOUT是负载电阻R1中的输出电流。 2 VOUT是R1两端的输出电压。 3 POUT是输出功率 (IOUT × VOUT). 4 IIN是通过U1的输入电流。 |
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原理图
结论
ADuM4135栅极驱动器具有电流驱动能力和正确的电源范围(最大30 V),还有100 kV/µs的强大CMTI能力,在驱动SiC MOSFET时能够提供优良的性能。
测试结果表明,该产品可为驱动SiC的隔离电源、高压栅极驱动器提供解决方案。


























