摘要
当客户要求稳压器BOM中的所有器件(包括控制器、功率级和磁元件)都有多个供应来源时,统一封装策略能够满足要求。然而,ADI公司并未参与价格战,而是开发了耦合电感IP来显著提升系统性能,从而为客户提供更高的系统价值。
引言
数据中心、人工智能(AI)和通信领域的许多应用使用输入电压为12 V的多相降压稳压器。图1(a)显示了常规8相降压转换器,其中分立电感(DL)排成一行,间距为业界典型的8.3 mm/相。图1(b)显示了采用相同布局的替代解决方案,其中分立磁元件被替换为两个4相耦合电感(CL)。
需要思考的是,客户为什么会选择这个替代方案?而 ADI 开发这套独特解决方案背后的动机又是什么,仅仅是为了与众不同吗?答案是CL的品质因数(FOM)显著增加,可以根据客户的不同优先级进行调整。统一封装(CF)策略意味着所有器件的占用空间都相同。所以,当解决方案尺寸相同时,优化的重点将放在提高效率上。
对于DL和CL,应考虑它们的基本原理和主要区别。常规降压转换器各相的电流纹波可由公式1求出,其中占空比为D = VO/VIN,Vo 为输出电压,VIN为输入电压,L为电感值,Fs为开关频率。
或者,漏感为Lk且互感为Lm的耦合电感中的电流纹波可表示为公式2。1 FOM用公式3表示,其中Nph 为耦合相数,ρ为耦合系数(公式4),j为运行指数,定义了占空比的适用区间(公式5)。
通过比较公式1和公式2可知,FOM是主要区分因素,展现了CL在电流纹波消除方面要优于DL。FOM的值取决于多个因素,而在CL中,FOM值通常可以很大,意味着性能大幅提升。不过,单靠FOM优势本身,并不能保证很大的性能差异。系统必须根据所需的优先级,有意识地利用增加的FOM所带来的优势。
CL优化
从 VIN = 12 V至VO= 1 V参考设计开始,其中DL = 100 nH提供了基线性能,针对耦合系数Lm/Lk的几个实际合理的值,绘制了 Nph= 4构建模块的CL FOM,如图2所示。红色曲线Lm/Lk = 0表示分立电感的FOM = 1基线。这里的目标是保持相同的瞬态性能和相同的输出电容槽Co,因此为CL泄漏选择了相同的100 nH值。如文章“解决耦合电感中的磁芯损耗问题”2和视频“耦合电感的基础知识和优势”1所示,并且在图2中可以清楚看到,理想情况下, Lm 值应尽可能高,使耦合系数最大化(公式4),从而增加FOM。在给定尺寸(h = 12 mm,相位间距8.3 mm/ph)下,合理的 Lm = 260 nH可通过极其保守的Isat = 25 A实现,这与允许的相位间电流不平衡有关。请注意,CL的负载能力由 Lk的Isat定义,在该CL设计中,Isat 为每相>100 A(105°C时),超过DL Isat 额定值。
12 V至1 V应用对应的占空比范围约为D~0.083。对于保守的Lm/Lk = 2.6,图2中的FOM > 2.5,表明CL中的Fs可轻松降低二分之一,以保持较低的电流纹波。由于与开关频率成比例的几种损耗将降低,因此这应该能显著提高效率。
增加 Lm通常有利于减少电流纹波,但图3表明 Lm = 260 nH能够实现大部分电流纹波消除的好处,且不会出现回报递减的情况(回报递减是指进一步增加 Lm带来的改善非常有限)。
图4绘制了相应的电流纹波,比较了VIN= 12 V和Fs = 800 kHz条件下的基线设计DL = 100 nH与建议的四相CL = 4× 100 nH ((Lm = 260 nH)。显然,CL解决方案可以在 Fs = 400 kHz时而不是800 kHz时运行,并且与800 kHz条件下的DL = 100 nH相比,仍具有较小的电流纹波。峰峰值纹波较小,意味着所有电路波形的均方根值也会较小,包含传导损耗。主要的效率提升将来自于Fs 减少二分之一,意味着开关损耗、FET体二极管的死区时间损耗、反向恢复、栅极驱动损耗等将大幅减少。请注意,最显著的效率改进将出现在轻载条件下,此时交流损耗更为明显。然而,一些损耗(例如开关转换过程中的电压和电流重叠)与负载电流成比例,因此效率提升在满载时也将显而易见。
开发的4× 100 nH耦合电感如图5所示。请注意,引脚布置符合DL占用空间要求,兼容多个来源和替代方案。
实验结果
四相降压转换器的瞬态性能如图6所示,比较了8相DL = 100 nH (600 kHz) 和2× CL = 4× 100 nH (400 kHz)的波形。正如预期的那样,相同的电流摆率和相同的输出电容导致瞬态性能相似。由于一个相位的占空比瞬态变化会导致所有相位电流同时变化,因此耦合相位能够有效增加反馈环路的相位裕量,再加上多相拓扑,能够缓解因CL开关频率降低而造成的潜在反馈带宽降低。
图7显示了不同开关频率下的相应效率比较,其中虚线表示DL,实线表示CL。在高开关频率下,CL和DL的电流纹波都不显著,因此效率相似。但由于CL具有明显的电流纹波优势,所以降低CL的Fs会令整体损耗大幅减少,且电流纹波增加不会对其造成太大的影响。DL解决方案的效率也随着Fs的降低而提高,但速度会越来越慢,因为过大的电流纹波会使波形的均方根值变差,并导致磁芯损耗和ACR损耗呈非线性增加。因此,与DL相比,CL具有明显的效率优势:峰值时为1%,满载时为0.5%。相关热性能也有所改善。
结论
根据统一封装(CF)策略,用于替代分立电感的CL解决方案在设计时采用相同的占用空间和总体尺寸,可作为12 V至~1 V应用的4相构建模块。通过利用CL的优势,效率得到显著提升,同时保留了瞬态性能。实验结果证实了基于FOM的设计和优化策略。
已实现的整体性能提升说明了ADI IP在耦合电感方面的优势。
参考电路
1 Alexandr Ikriannikov,“耦合电感的基础知识和优势”,Maxim Integrated,2021年8月。
2 2Alexandr Ikriannikov和Di Yao,“Addressing Core Loss in Coupled Inductors.”, Electronic Design News,2016年12月。
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