Analog Devices : Analog Dialogue : 封底故事(第42卷第4期)

第42卷第4期封底故事

8信道数据采集

理论上，影响数据采集系统的主要因素包括：速度、精度、功耗、封装尺寸以及器件成本，至于哪一个因素最关键，要取决于具体的应用需求。在与13位、1-MSPS的AD7329连续逼近型模数转换器一起用时，可以用一个单运算放大器来实现8通道的数据采集系统，既可以降低成本，又可以减小整个系统的尺寸。下面的链接是一篇关于简单的低成本8通道数据采集系统的文章：www.analog.com/library/analogdialogue/archives/42-12/8channel_das.html。

多电压JTAG链

随着低功率手持设备的流行，电路板上同时具有5V、3.3 V、2.5 V以及1.8 V的器件已是很常见的事情，这使得JTAG链的设计面临挑战。设计师既要必须确定所采用的电源，又要确定采用不同电压的各种器件的安放顺序。有一篇文章讲述了更具鲁棒性的JTAG链的设计技巧和技术，具体请参见www.analog.com/library/analogdialogue/archives/42-12/multi_voltage_jtag.html。

应用中编程

ADuC702x系列高精度模拟微控制器提供了串行加载器功能，可以把汇编程序加载到片上存储器中，不过这需要用户在复位或加电过程中以手动方式将一个引脚连接到低电平。而应用中编程功能可以让用户无须接触电路板就可升级程序。有关如何对ADuC703x进行程序升级的文章请参见ww w.analog. com/library/analogdialogue/archives/42-11/ADuC702x_IAP. html。文中提供了应用代码，可以非常快速且简单地实现。

残余相位噪声测量

残余噪声测量功能消除了来自电源、输入时钟、或者其它外部噪声源的影响。链接www.analog.com/library/analogdialogue/ archives/42-11/residual_phase_noise.html。中的文章着重讲述了残余相位噪声的属性，并论证了如何利用相位噪声来识别出与该噪声源有关的一些问题。

测试窗口比较器

好像就在比较器发明后不久，就有人提出将两只比较器放到一起来构成一个窗口比较器。为了测试电路的工作正常与否，可以将一个外部控制的测试功能加入到窗口比较器中。有关这种实现方案的讲述，请参见www.analog.com/library/analogdialogue/archives/42-10/testing_comparators.html。

保护断电放大器

做一名应用工程师的最好理由就是要面对各式各样的客户、应用以及电路，以及遇到的各种问题，这些都为不断地学习新东西提供了动力和机会。 ADI公司的应用工程师每年都会收到许多来自各类用户的问题，很多是关于ADI放大器在断电后相关的问题，在这个条件下的放大器有时被称作为“断电放大器”。有一篇文章专门讲述如何保护放大器免受感应电流的冲击破坏，请点击www.analog.com/library/analogdialogue/archives/42-10/off_amps.html。