自動試験装置

ADATE318は全機能内蔵のシングルチップのATEソリューションで、ドライバ、コンパレータ、アクティブ・ロード（DCL）、4象限、パーピン・パラメトリック・メジャー・ユニット（PMU）などピン・エレクトロニクス機能を提供します。この製品は、フラッシュ・メモリ・テスト・アプリケーションをサポートするためのチップあたりのVHHドライブ能力を備えており、製品の動作に関して必要な全てのDCレベルを提供するためのキャリブレーション・エンジンを内蔵した16ビットのDACを集積しています。

ドライバは3つのアクティブ・ステートを特長としています：この3つはデータ・ハイ、データ・ローおよびターミネート・モードで、高インピーダンスのインヒビット・ステートもあります。インヒビット・ステートは、内蔵のダイナミック・クランプ機能とともに、高速アクティブ・ターミネーションの導入を容易にします。出力電圧能力は-1.5V～+6.5Vで、ATEおよび計測器アプリケーションでの広い範囲に対応します。

ADATE318は、デュアルとしてシングルエンド・ドライブ・チャンネル/シングルエンド・レシーブ・チャンネル、または、シングルとして差動ドライブ・チャンネル/差動レシーブ・チャンネルとして使うことができます。ADATE318の各チャンネルは、高速のウインドウ・コンパレータの機能があり、差動ATEアプリケーションでのプログラマブルなスレショールド差動コンパレータ機能も備えています。また4象限のPPMUもチャンネルごとに用意されています。

DCLおよびPPMU機能のための全てのDCレベルは、24個の内蔵16ビットDAコンバータによって生成されます。高精度なレベルをプログタミングするために、ADATE318は各機能ブロックごとにゲインとオフセット誤差を補正するためのキャリブレーション機能を内蔵しています。補正係数はチップ上に保存することができ、DACに書き込まれたいかなる値も、適切な補正ファクタを用いて、自動的に調整されます。

ADATE318は、全ての機能ブロック、DAC、オンチップ調整用常数をプログラムするために、シリアル・プログママブル・インターフェース（SPI）を使います。また、デバイスの温度や各出力ピンあるいは動作中に起こる可能性のあるPPMUの電圧障害をモニタリングおよびレポーティングするための、オンチップ温度センサ、オーバ/アンダ電圧障害クランプ機能も備えています。

アプリケーション

• 自動テスト装置（ATE）
• 半導体テスト・システム
• ボード・テスト・システム
• 計測機器および特性評価用装置

ADATE320は全機能内蔵型シングル・チップのATEソリューションで、ドライバ、コンパレータ、アクティブ・ロード（DCL）、4象限パーピン・パラメトリック測定ユニット（PPMU）などのピン・エレクトロニクス機能を実行します。キャリブレーション・レジスタ付き専用16ビットのD/Aコンバータ（DAC）がデバイスの動作に必要な全てのDCレベルを提供します。 

ドライバには3つのアクティブ状態があります：この3つはデータ・ハイ、データ・ローおよび終端モードで、高インピーダンスのインヒビット状態もあります。インヒビット状態と、内蔵ダイナミック・クランプ機能の組み合わせにより、ドライバがラインをアクティブに終端していない時、伝送ラインの反射を大幅に減衰させることができます。オープン回路駆動能力は-1.5 V ～ +4.5 Vで、ATEおよび計測器アプリケーションの標準的な範囲に対応します。 

ADATE320は、2系統のシングルエンド・ピン・エレクトロニクス・チャンネル又は1系統の差動チャンネルとして使うことができます。ADATE320はチャンネルごとの高速のウインドウ・コンパレータに加え、差動ATEアプリケーション用のプログラマブルなスレショールド差動コンパレータ機能も備えています。 

DCL機能やPPMU機能に必要なすべてのDCレベルは、内蔵の専用16ビットDAコンバータによって生成されます。高精度なレベルのプログタミングを容易にするために、ADATE320は各機能ブロックにゲインとオフセット誤差を補正するキャリブレーション機能を内蔵しています。補正係数はオンチップに保存することができ、DACに書き込まれた任意の値は、適切な補正係数を用いて、自動的に調整されます。 

ADATE320は、全ての機能ブロック、DAC、オンチップ調整用定数をプログラムするために、シリアル・プログママブル・インターフェース（SPI）を使います。また、デバイスの温度や任意の出力ピンあるいは動作中に起こる可能性のあるPPMUの過度電圧障害を監視および報告するための、オンチップ温度センサ、過電圧／低電圧障害クランプ機能も備えています。 

ADATE320には2つのオプションがあります。標準オプションは250 mV出力振幅の高速コンパレータ出力を備えています。ADATE320-1の出力振幅は400 mVです。詳細情報はオーダー・ガイドを参照してください。 

• 自動テスト装置（ATE）
• 半導体／ボード・テスト・システム
• 計測機器および特性評価用装置

AD5560は、高性能、高集積のデバイス・パワー・サプライで、プログラマブルな強制電圧と計測レンジが含まれています。この製品は、駆動アンプに必要な、プログラマブル入力を設定するためのDACレベルとともにクランピングおよびコンパレータ回路を内蔵しています。オフセットおよびゲイン修正は、内蔵のDAC機能に含まれています。多くのプログラマブルな計測電流範囲が可能となっており、5つの内部固定範囲と2つの外部カスタマ選択可能な範囲（EXTFORCE1とEXTFORCE2）があり、それぞれの供給可能電流は最大1.2Aと500mAとなっています。このような高電流レベルで可能な電圧範囲は、ヘッドルームと最大消費電力によって制限されます。±1.2Aを超える電流範囲または高電流と高電圧の組み合わせは、パラレルまたは集合の複数DPSデバイスによって達成されることもできます。オープン・ドレインのアラーム出力は、過電流、過熱のイベント、または、SENSEまたはDUTGNDラインのどちらかのケルビン・アラームによって提供されます。 

DPS機能は、最大50MHzのクロック速度で動作するSPI、QSPI™、MICROWIRE™、DSP互換のシンプルな3線式シリアル・インターフェースを介して制御します。 

• 自動テスト装置（ATE）
  
  • デバイス・パワー・サプライ

ADGM1004は広帯域、単極4投(SP4T)のスイッチで、 アナログ・デバイセズ社のマイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム(MEMS)スイッチ技術を使用して製造されました。この技術は小型、広い無線周波数(RF)帯域、高い直線性、低挿入損失で0 Hz/dc～13 Hzまで動作可能なスイッチを可能にするので、広範囲のRF／精密装置でのスイッチングの要求に対し理想的なソルーションとなります。

内蔵のドライバ・チップは、パラレル・インターフェースおよびシリアル・ペリフェラル・インターフェース（SPI）によって制御可能なスイッチを静電駆動するのに必要な高電圧を生成します。4つのスイッチはすべて別々に制御可能です。

この製品は24ピン、5 mm × 4 mm × 1.45 mm リード・フレーム・チップ・スケール・パッケージ(LFCSP)に収納されています。

ADGM1004の最適な動作を確保するため、使用上の注意事項のセクションに従ってください。

ADGM1004のオン抵抗(R_ON)性能は、デバイスごとのばらつき、チャンネルごとのばらつき、サイクル動作、ターンオン後のセトリング・タイム、バイアス電圧、温度変化の影響を受けます。

このデータシートを通して、IN1/SDIのような複数機能をもつピンは、ピン名をフルで呼称する場合と、ピンの1機能（例えば、SDIの機能のみに関連するときはSDI）で呼称する場合があることに注意してください。

アプリケーション

• リレーの置き換え
• 自動テスト装置(ATE): RF/デジタル/ミックスド・シグナル
• ベンチテスト基板: RF/デジタル/ミックスド・シグナル
• RFの試験用計測装置
• リコンフィギュラブル・フィルタ/アッテネータ
• 高性能RFスイッチ

ADGM1304は、アナログ・デバイセズMEMS（microelectro-mechanical system）スイッチ技術を使用して製造された、広帯域、単極四投（SP4T）スイッチです。この技術により、フォーム・ファクタが小さく、RF帯域幅が広く、挿入損失が少なく、0Hz/DC～14GHzの周波数で動作するスイッチが実現します。ADGM1304は、幅広いRFと高精度装置の切替えが必要な場合に理想的なソリューションになっています。

内蔵ドライバ・チップにより、静電気力でスイッチを作動させるための高電圧が生成されます。これは、パラレル・インターフェースとシリアル・ペリフェラル・インターフェース（SPI）により制御できます。4つのスイッチは独立して制御できます。

デバイスは、24ピン、5mm × 4mm × 0.95mmリード・フレーム・チップ・スケール・パッケージ（LFCSP）を採用しています。

ADGM1304の最適な動作を確保するには、重要な動作条件セクションに完全に従う必要があります。

ADGM1304のオン抵抗（RON）性能は、デバイス間変動、チャンネル間変動、サイクル作動、セトリング・タイムのポスト・ターンオン、バイアス電圧、温度変化の影響を受けます。

アプリケーション

• リレーの代替
• ATE（自動試験装置）：RF／高速デジタルおよびミックスド・シグナル
• 負荷およびプローブ・ボード：RF／高速デジタルおよびミックスド・シグナル
• RFテスト用計測器
• 再構成可能なフィルタおよび減衰器
• 高性能RF切替え

The circuit shown in Figure 1 uses RF MEMS switches to route an RF signal between two surface-mount RF attenuators and two straight through paths.

Attenuating RF signals is commonly done in RF test instrumentation and receiver front ends to protect downstream circuitry and to increase dynamic range. Using discrete attenuators and switches maximizes design flexibility and routing options. In the Figure 1 circuit, two ADGM1304 single-pole, four-throw (SP4T) RF MEMS switches in a back to back configuration yield four independently switchable paths between input and output. Two of the paths are straight through transmission lines, the third path contains a 6 dB attenuator, and the forth path contains a 9 dB attenuator. Key to realizing this application is the use of ultralow insertion loss and highly linear switches to multiplex between the different path options.

The switches must be as transparent as possible to the RF signal and add as little insertion loss and distortion as possible. The ADGM1304 switches offer best in class insertion loss of 0.26 dB typical at 2.5 GHz, and a third-order intercept (IP3) performance of 69 dBm typical. In addition to insertion loss and distortion, another key benefit that the MEMS switch brings to this application is its ability to operate down to true dc. This means the switches do not limit lower frequency operation in a typical RF instrumentation attenuator switching application, and enables the instrument to pass dc bias voltages when required.

The physical size of the ADGM1304 device at 4 mm × 5 mm × 0.95 mm yields a significant reduction in printed circuit board (PCB) area compared to traditional electromechanical relays switching solutions. In addition, the actuation speed of the ADGM1304 switch is 30 μs, a significant improvement over electromechanical relays, which are in the order of milliseconds and introduce significant time lag in measurement systems. The actuation lifetime of the ADGM1304 device is guaranteed for one billion cycles, which is a major improvement over electromechanical relays and significantly increases overall system reliability.

アナログ・デバイセズのADA4945-1CP-EBZ評価用ボードを使用することで、ADA4945-1完全差動アンプの性能を評価できます。ADA4945-1CP-EBZ評価用ボードは、シングルエンドまたは差動の入力信号を受け入れるよう設定できます。

適切なジャンパを適用すれば、ADA4945-1の出力クランプレベルをハイおよびローに設定すること、出力コモンモード電圧を設定すること、ハイ・パワー・モードまたはロー・パワー・モードに設定すること、デジタル・グラウンド・レベルを設定することができます。

回路の柔軟性と性能が最高となるよう、部品の配置と電源バイパスが設定されています。

入出力信号は、50Ωのサイド・ローンチのSMA（サブミニチュア・バージョンA）コネクタを介してボードに印加されます。

ADA4945-1のすべての仕様は、ADA4945-1データシートに記載されています。ADA4945-1CP-EBZ評価用ボードを使用する場合は、このユーザ・ガイドとデータシートを組み合わせて参照してください。