Assembly/Package Process Data
Autoclave (PCT), Highly Accelerated Stress Test (HAST), High Temperature Storage (HTS), Temperature Cycling Test (TCT), Temperature Humidity Bias (THB), Thermal Shock Test (TST), Unbiased HAST.
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| 通用 | 测试名称 | 条件 | 时长 | 日期代码 | 封装类型 | 引脚数量 | 制造工艺 | 样本大小 | 失效数量 | |
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免责声明: 若该时间段内未对目标器件采样，可使用该器件所属特定封装系列的可靠性数据，因为同一系列的所有器件均采用同样的规则设计，并在统计过程控制(SPC)管控下的同一条生产线上制造。