借助MEMS开关在AI驱动的高带宽内存和GPU中实现环回测试

随着人工智能与高速计算技术飞速发展，HBM高带宽内存、GPU图形处理器的信号传输速率持续攀升，高速接口带宽也随之不断扩容，这对这类芯片测试的信号完整性、测试密度及测试效率提出了更高要求。环回测试作为核验高速芯片通道性能、保障设备稳定运行的核心方式，重要性愈发凸显。