自动测试设备(ATE)
ADI公司提供全面的自动测试设备(ATE)专用产品系列，可实现高性能且经济高效的半导体测试。集成引脚电子设备(PE)可驱动数字信号，并精确控制电压和电流，而且PE产品集成了每引脚参数测量单元(PPMU)，通过电平设置DAC进行控制。要为被测器件精确供电，器件电源(DPS)必不可少。参数测量单元(PMU)用于准确测量和监控电压与电流。ADI的ATE解决方案可满足各种IC测试应用的需求，为封装和晶圆测
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分类产品
MAX32001
推荐用于新设计
带有PMU多路复用器开关的双通道2.0Gbps引脚电子器件
ADATE324
推荐用于新设计
1.6 GHz四通道集成DCL，内置VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准寄存器
MAX32007
推荐用于新设计
集成电平设置DAC、线缆压降补偿和PMU开关的八通道3.0Gbps DCL
ADATE334
推荐用于新设计
具有PPMU、电平设置DAC和片内校准寄存器的2.3 GHz双路集成DCL
ADATE320
推荐用于新设计
内置PPMU的1.25 GHz双通道集成DCL、电平设置DAC和片内校准寄存器
MAX19005
量产
四通道、超低功耗、200Mbps ATE驱动器/比较器
ADATE318
推荐用于新设计
600 MHz双通道集成DCL，内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎
MAX9979
量产
双通道1.1Gbps引脚电子，集成了PMU和电平设置DAC
AD5560
量产
1.2A可编程器件电源，集成16位电平设置DAC
ADATE302-02
量产
500 MHz双通道集成DCL，提供差分驱动/接收、电平设置DAC和单引脚PMU功能
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