Программа надежности

Устранение основных причин выхода интегрированных схем из строя по вине потребителя (pdf, на англ. яз.)
Эндрю Олни - Перепечатано в соответствии в требованиями IEEE.

Моделирование реальных выходов из строя при помощи модели заряженной платы (pdf, на англ. яз.)
Перепечатано с разрешения ESD Association.

Комбинированный подход к тестированию компонентов на выход из строя в соответствии с моделью CDM с применением и без применения сокетов (pdf, на англ. яз.)
Перепечатано с разрешения ESD Association.

Новая модель электростатического разряда: Модель заряженного полоска (pdf, на англ. яз.)
Перепечатано с разрешения ESD Association.

Добавление методов тестирования активным электронным пучков к существующей технологии анализа выходов из строя
М.Б. Феррара и Дж.Дж.Оуэн