ADR130
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ADR130

高精度 サブ・バンド・ギャップ 電圧リファレンス シリーズ

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よく聞かれる質問(FAQ)

製品モデル 2
1Ku当たりの価格 最低価格:$1.08
特長
  • 初期精度:Aグレード:±0.70%(max)、Bグレード:±0.35%(max)
  • 最大温度係数:、Aグレード:、50ppm/℃、Bグレード:25 ppm/℃
  • CLOAD=50nF~10μF
  • 出力電流:+4 mA/-2 mA
  • 低動作電流:80μA (typ)
  • 出力ノイズ:6μVp-p@1.0V出力
  • 入力範囲:2.0 V~18 V
  • 動作温度範囲:-40℃~+125℃
  • 小型、鉛フリーSOT-23パッケージ

製品概要
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ADR130は、業界初の小型、マイクロパワー、低電圧の高精度、電圧リファレンスです。小型TSOT23パッケージに収められた、0.35%の初期精度と25ppm/℃の温度ドリフトを特長としているADR130電圧リファレンスは、標準の動作で僅か80μAしか必要としません。ADR130の設計では、特許取得済みの温度ドリフト曲線補正技術が採用されており、温度特性に対する出力電圧内の非直線性が最小化されています。

工業用温度範囲は-40℃~+125℃で供給され、ADR130は小型TSOT-23パッケージに収められています。

0.5Vの出力時は、SET(5ピン)をVOUT(4ピン)に結んでください。1.0 Vの出力時は、SET(5ピン)をGND(2ピン)に結んでください。

ADR130の全グレード
モデル名
Vout
精度
温度係数(ppm/℃)

ADR130A

0.5/1.0V
±3.5mV
50ppm/°C
ADR130B
0.5/1.0V
±1.75mV


アプリケーション

  • バッテリ駆動の計測機器
  • ポータブル医用機器
  • 通信用インフラストタクチャ装置

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製品モデル 2
1Ku当たりの価格 最低価格:$1.08

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アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ・デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。


本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。

なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」(リビジョン0)で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」(Rev.G)と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。

ドキュメント

ドキュメント

アナログ・デバイセズは、最高レベルの品質と信頼性を満たす製品を供給することを常に最重要視しています。これを実現するため、製品、プロセス設計、更には製造プロセスに対しあらゆる観点から品質と信頼性のチェックを行っています。アナログ・デバイセズでは出荷製品に対する「ゼロ・ディフェクト」を常に目指しています。詳細については、アナログ・デバイセズの品質および信頼性プログラム、認証のページを参照してください。
製品モデル ピン/パッケージ図 資料 CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
ADR130AUJZ-REEL7
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ADR130BUJZ-REEL7
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製品モデル

製品ライフサイクル

PCN

9 7, 2017

- 17_0079

Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing

1 26, 2010

- 10_0007

Halogen Free Material Change for TSOT Products

ADR130AUJZ-REEL7

製造中

ADR130BUJZ-REEL7

製造中

5 27, 2009

- 06_0083

ADI Silicon Valley Second-Generation High Voltage Bipolar Process (HVBP2) Fab/Trim/Probe Transfer.

ADR130AUJZ-REEL7

製造中

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PCN

9 7, 2017

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ソフトウェアおよび製品のエコシステム

ソフトウェアおよび製品のエコシステム

評価用キット

評価用キット 2

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EVAL-ADMX1001

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

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EVAL-ADMX1001

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

機能と利点

  • Ultra-low distortion, high-resolution source
    • DC, 50Hz to 40kHz Frequency Range
    • Proprietary digital pre-distortion (DPD) algorithm
    • –130dBc THD @ 1kHz (typ.)
    • Arbitrary waveform generation (AWG) with on-board pattern memory
    • Differential (balanced) output up to 3.5VRMS
    • Fast pattern switching between multiple stored waveforms
  • Fully Differential input Acquisition Channel
  • Small form-factor (60mm x 40mm)
  • Low power, 1W typ. (quiescent)
  • SPI interface for integration into test and measurement systems

製品の詳細

The ADMX1001 is an ultra-low distortion sinewave and high-resolution arbitrary waveform generator with an acquisition channel. This high-performance module demonstrates a proprietary digital pre-distortion algorithm that reduces signal distortion below levels that can be achieved with high-performance digital-to-analog converters (DAC) and amplifiers alone. Its differential output can be set to common-mode levels often required to test high-performance analog-to-digital converters (ADC), audio codecs, and other audio ICs and systems. The signal generator and the acquisition channel can be individually controlled using separate, easy to use, SPI interfaces - combined with the module's small-form factor, the ADMX1001 can be easily embedded into test systems, or simply used on the bench for measurement and characterization.

APPLICATIONS

  • High-end audio test
  • Analog-to-digital converter characterization and test
  • Sensor and transducer test
  • Frequency response and network analysis
  • ATE
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EVAL-ADMX1002

超低歪み信号発生器測定モジュール

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EVAL-ADMX1002

超低歪み信号発生器測定モジュール

超低歪み信号発生器測定モジュール

機能と利点

  • 超低歪み、高解像度ソース
    • 周波数範囲:DC 、50Hz~40kHz
    • 独自のデジタル・プリディストーション(DPD)アルゴリズム
    • −130dBc THD(1kHz(代表値)の時)
    • 内蔵パターン・メモリを用いた任意波形発生(AWG)
    • 差動(バランス型)出力:最大3.6VRMS
  • 複数の記憶された波形間の高速パターン・スイッチング
  • スモール・フォーム・ファクタ(60mm × 40mm)
  • 低消費電力:1W(自己消費、代表値)
  • SPIインターフェースをテストおよび測定システムに統合

製品の詳細

ADMX1002は、超低歪み、正弦波、高解像度の任意波形発生器です。この高性能モジュールは、独自のデジタル・プリディストーション・アルゴリズムの採用により、信号の歪みを、高性能のDAC(D/Aコンバータ)やアンプのみが達成できるレベル以下に低減します。その差動出力は、高性能ADC(A/Dコンバータ)、オーディオ・コーデック、その他のオーディオICやシステムのテストで必要になることが多いコモンモード・レベルに合わせて設定できます。容易に導入可能なSPIインターフェースとスモール・フォーム・ファクタにより、ADMX1002は、テスト・システムへの組み込みが容易にでき、測定や特性評価用の作業台でも簡単に使用できます。

アプリケーション

  • ハイエンド・オーディオのテスト
  • A/Dコンバータの特性評価およびテスト
  • センサーおよびトランスジューサのテスト
  • 周波数応答およびネットワークの解析
  • ATE(自動試験装置)

最近表示した製品