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よく聞かれる質問（FAQ）
特長
- 最大出力電流：1A
- 入力電圧範囲：2.5～5.5V
- 低いシャットダウン電流：1μA未満
- 低いドロップアウト電圧：345mV＠1A負荷
- 初期精度：±1％
- ライン、負荷、温度の変動に対する精度：±2.5％
- 電流制限およびサーマル過負荷保護
- ソフト・スタート機能付きの16種の固定出力電圧オプション：0.75～3.3V（ADP1706）
- トラッキング機能付きの16種の固定出力電圧オプション：0.75～3.3V（ADP1707）
- 調整可能な出力電圧オプション：0.8～5.0V（ADP1708）
- 小型の4.7μFセラミック出力コンデンサで安定動作
- 優れた負荷／ライン過渡応答
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ADP1706/ADP1707には、16種の固定出力電圧オプションが用意されています。ADP1708は、外付け分圧器によって出力電圧を0.8～5.0Vの範囲で設定できる調整可能バージョンです。ADP1706はソフト・スタート用コンデンサを外付けして、スタートアップ時間を設定できます。ADP1707とADP1708は、スタートアップ時間を100μs（typ）に設定できるソフト・スタート用コンデンサを内蔵しています。ADP1707には、出力を外部電圧レールまたはリファレンス電圧に追従させることができるトラッキング機能があります。
ADP1706/ADP1707/ADP1708は、8ピンの露出パドル付きSOICパッケージと8ピン、3mm×3mmの露出パドル付きLFCSPで提供しており、きわめてコンパクトなソリューションになるだけでなく、小型で薄型のフットプリントで最大1Aの出力電流が必要なアプリケーション向けに優れた熱性能を提供します。
アプリケーション
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よく聞かれる質問（FAQ）
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ADP1706
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利用上の注意
アナログ・デバイセズ社は、提供する情報が正確で信頼できるものであることを期していますが、その情報の利用に関して、あるいはその利用によって生じる第三者の特許やその他の権利の侵害に関して一切の責任を負いません。また、アナログ･デバイセズ社の特許または特許の権利の使用を明示的または暗示的に許諾するものでもありません。仕様は予告なしに変更する場合があります。本紙記載の商標および登録商標は、各社の所有に属します。
本データシートの英語以外の言語への翻訳はユーザの便宜のために提供されるものであり、リビジョンが古い場合があります。最新の内容については、必ず最新の英語版をご参照ください。
なお、日本語版のデータシートは基本的に「Rev.0」（リビジョン0）で作成されています。そのため、英語版が後に改訂され、複数製品のデータシートがひとつに統一された場合、同じ「Rev.0」の日本語版のデータシートが異なる製品のデータシートとして表示されることがあります。たとえば、「ADM3307E」の場合、日本語データシートをクリックすると「ADM3311E」が表示されます。これは、英語版のデータシートが複数の製品で共有できるように1本化され、「ADM3307E/ADM3310E/ADM3311E/ADM3312E/ADM3315E」（Rev.G）と改訂されたからで、決して誤ってリンクが張られているわけではありません。和文化されたデータシートを少しでも有効に活用していただくためにこのような方法をとっておりますので、ご了解ください。
ドキュメント
データシート 2
ユーザ・ガイド 4
UG-461: ezLINX iCoupler Isolated Interface Development Environment Software User Guide
UG-551: XStream™ ADI-BERT: An 11.3 Gbps Bit Error Rate Tester Solution Based on ADN2915, a Continuous-Tuning Wideband Clock and Data Recovery IC
EVAL-ADP1706/ADP1707/ADP1708 User Guide
User Guide: ADMX1002, Ultra-low Distortion and Low Noise Signal Generator
アプリケーション・ノート 2
チュートリアル 1
ソリューション・カタログ 1
Analog Dialogue 1
- ADP1706ACPZ-1.05R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ACPZ-1.2-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ACPZ-1.3-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ACPZ-1.5-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ACPZ-2.5-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ACPZ-3.3-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead LFCSP (3mm x 3mm w/ EP)
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-1.15R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-1.2-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-1.3-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-1.5-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-1.8-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-2.5-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-3.0-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADP1706ARDZ-3.3-R7
- ピン／パッケージ図
-
8-Lead SOIC w/ EP
- 資料
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CADシンボル、フットプリント、および3Dモデル
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
2 13, 2014
- 14_0038
Conversion of 3x3mm body Size LFCSP Package Outlines from Punch to Sawn and Transfer of Assembly Site to Amkor Philippines.
ADP1706ACPZ-1.05R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-3.3-R7
製造中
2 8, 2010
- 04_0080
Qualification of the 8" C6 and Q Wafer Fab Processes at Analog Devices, Limerick, Ireland.
ADP1706ACPZ-1.05R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-3.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.15R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.8-R7
製造中
ADP1706ARDZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.0-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.3-R7
製造中
11 23, 2010
- 10_0004
Halogen Free Material Change for SOIC Narrow Body Products Assembled at Amkor
ADP1706ARDZ-1.15R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.8-R7
製造中
ADP1706ARDZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.0-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.3-R7
製造中
モデルでフィルタ
製品モデル
製品ライフサイクル
PCN
2 13, 2014
- 14_0038
Conversion of 3x3mm body Size LFCSP Package Outlines from Punch to Sawn and Transfer of Assembly Site to Amkor Philippines.
ADP1706ACPZ-1.05R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-3.3-R7
製造中
2 8, 2010
- 04_0080
Qualification of the 8" C6 and Q Wafer Fab Processes at Analog Devices, Limerick, Ireland.
ADP1706ACPZ-1.05R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ACPZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ACPZ-3.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.15R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.8-R7
製造中
ADP1706ARDZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.0-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.3-R7
製造中
11 23, 2010
- 10_0004
Halogen Free Material Change for SOIC Narrow Body Products Assembled at Amkor
ADP1706ARDZ-1.15R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.2-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.3-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-1.8-R7
製造中
ADP1706ARDZ-2.5-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.0-R7
製造中
ADP1706ARDZ-3.3-R7
製造中
評価用キット 3
EVAL-ADMX1001
Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module with Fully Differential Input Acquisition Channel
機能と利点
- Ultra-low distortion, high-resolution source
- DC, 50Hz to 40kHz Frequency Range
- Proprietary digital pre-distortion (DPD) algorithm
- –130dBc THD @ 1kHz (typ.)
- Arbitrary waveform generation (AWG) with on-board pattern memory
- Differential (balanced) output up to 3.5VRMS
- Fast pattern switching between multiple stored waveforms
- Fully Differential input Acquisition Channel
- Small form-factor (60mm x 40mm)
- Low power, 1W typ. (quiescent)
- SPI interface for integration into test and measurement systems
製品の詳細
The ADMX1001 is an ultra-low distortion sinewave and high-resolution arbitrary waveform generator with an acquisition channel. This high-performance module demonstrates a proprietary digital pre-distortion algorithm that reduces signal distortion below levels that can be achieved with high-performance digital-to-analog converters (DAC) and amplifiers alone. Its differential output can be set to common-mode levels often required to test high-performance analog-to-digital converters (ADC), audio codecs, and other audio ICs and systems. The signal generator and the acquisition channel can be individually controlled using separate, easy to use, SPI interfaces - combined with the module's small-form factor, the ADMX1001 can be easily embedded into test systems, or simply used on the bench for measurement and characterization.
APPLICATIONS
- High-end audio test
- Analog-to-digital converter characterization and test
- Sensor and transducer test
- Frequency response and network analysis
- ATE
EVAL-ADP1706
ADP1706 Evaluation Board
製品の詳細
Simple device measurements such as line and load regulation, dropout, and ground current can be demonstrated with just a single voltage supply, a voltmeter, a current meter, and load resistors.
EVAL-ADMX1002
超低歪み信号発生器測定モジュール
製品の詳細
ADMX1002は、超低歪み、正弦波、高解像度の任意波形発生器です。この高性能モジュールは、独自のデジタル・プリディストーション・アルゴリズムの採用により、信号の歪みを、高性能のDAC（D/Aコンバータ）やアンプのみが達成できるレベル以下に低減します。その差動出力は、高性能ADC（A/Dコンバータ）、オーディオ・コーデック、その他のオーディオICやシステムのテストで必要になることが多いコモンモード・レベルに合わせて設定できます。容易に導入可能なSPIインターフェースとスモール・フォーム・ファクタにより、ADMX1002は、テスト・システムへの組み込みが容易にでき、測定や特性評価用の作業台でも簡単に使用できます。
アプリケーション
- ハイエンド・オーディオのテスト
- A/Dコンバータの特性評価およびテスト
- センサーおよびトランスジューサのテスト
- 周波数応答およびネットワークの解析
- ATE（自動試験装置）
