Using MEMS Accelerometers for Condition Monitoring

Condition monitoring is a major component of predictive maintenance. This webcast will highlight the benefits that MEMS Accelerometer technology brings to Condition Monitoring. Intrinsic attributes of MEMS that make a compelling case with respect to the liabilities of alternative technologies will be discussed. Also, progress with regard to performance will be reviewed, with comparisons to accelerometer technology commonly used today.


Ed Spence は、アナログ・デバイセズの高性能慣性技術グループの高性能加速度センサー担当マーケティング・マネージャーです。アナログ・デバイセズは、高性能慣性センサー（加速度センサー、ジャイロ・センサーなど）や、慣性測定ユニット（IMU）などの高度に統合化されたソリューションを設計、製造しています。