Non-Linear Simulation of RF Amplifiers in Keysight Genesys, SystemVue and ADS

Linear and non-linear RF circuit simulation have traditionally occupied different domains. This webcast will explore a number of new RF Amplifier model structures that combine linear S-Parameter data with non-linear data such as Noise Figure, OIP3, OP1dB and PSAT. Analog Devices now provides extensive libraries of RF Amplifier models that support Keysight’s Genesys, SystemVue and ADS simulation platforms. By comparing measured vs. simulated results for characteristics such as compression, Adjacent Channel Power Ratio and EVM, we will explore the capabilities and limitations of these models.

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Eamon Nashは、アナログ・デバイセズのアプリケーション・エンジニアリング・ディレクタです。28年間にわたり、ミックスド・シグナル/高精度/RF製品に関する業務や工場での業務に従事してきました。現在はRF製品グループに所属しており、RF電力の測定、フェーズド・アレイ・レーダー、ミリ波のイメージングを専門としています。アイルランドのリムリック大学で電子工学の学士号を取得しています。