Instrumentation Grade mmWave Signal Chains

5G and mmWave technologies are proliferating to many applications. Instrumentation and test solutions for this rapidly growing market are in high demand. In this webcast, we present a robust mmWave signal chain solution that can be employed to characterize and test mmWave devices using the state of the art circuits from Analog Devices. We will also present signal chain optimization using error vector magnitude (EVM) as a test metric.

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Erkan Acar は、アナログ・デバイセズで計測/RFシステム・アプリケーションを担当しています。主にベースバンドから110GHz以上までを対象とするRF/ミリ波対応のシグナル・チェーンに関する業務に携わっています。以前は、低コストのRFテスト、自動テスト装置、高速インターフェースの信号品質/電力品質などに関する数多くの研究開発プロジェクトを率いていました。また、複数の特許を取得し、数多くの記事を発表しています。デューク大学(米ノースカロライナ州ダーラム)で修士号と博士号を取得しました。