Instrumentation Grade mmWave Signal Chains

5G and mmWave technologies are proliferating to many applications. Instrumentation and test solutions for this rapidly growing market are in high demand. In this webcast, we present a robust mmWave signal chain solution that can be employed to characterize and test mmWave devices using the state of the art circuits from Analog Devices. We will also present signal chain optimization using error vector magnitude (EVM) as a test metric.

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ノースカロライナ州ダーラムのデューク大学で博士号と修士号を取得。低コストRFテスト、自動試験装置、高速インターフェースの信号と電源の完全性などに関する様々な研究開発プロジェクトのリーダーを務める。複数の特許を保持し、これまでに多数の記事を執筆。現在は、ベースバンドから110GHz以上の範囲にわたるRFおよびミリ波シグナル・チェーンに関心を寄せる。