FAQ

AD5933 - FAQ

デシケータ管理条件

Q:  パッケージ開封後のデシケータ管理の条件について教えてください。管理状況によってベーキングが必要となるかと思います。その条件についても併せて教えてください。

A:  アナログ・デバイセズ製品に関しましては、湿度等の条件はJEDECのSTD–20Dを適用しております。(もともとご質問の製品は)その規定によりMSL(Moisuture Level)1と規定された製品です。MSL1のデバイスに対する取り扱いにつきましては、このJEDE STD–20Dをご参照ください。なおMSL1はもっとも管理が緩い製品レベルです。

内部フィルターのカットオフ

Q:   AD5933の内部ローパスフィルターのカットオフは、可変なのでしょうか?

A:   ADコンバータ前段のLPFのカットオフは、150KHz固定です。RFB抵抗に並列にコンデンサーを接続する事により、LPFを構成する事が出来ます。

クロックが変わった場合の位相シフトの分解能

Q:   可変位相シフト・レジスタが内蔵されたDDSでは、マスタークロックが変わった場合、設定できる最小分解能のステックは変わるのでしょうか。

A:   位相シフトの設定は、マスタークロック(Reference Clock)の周波数には依存しません。たとえば12ビット分解能のレジスタであれば、分解能は、360 / 4096≒0.088°です。

AD5933のサンプリング周波数の求め方

Q:   MCLK=512kHz, 測定信号周波数=1kHz ( 周波数設定コード=1048576 ) のとき、ADCのサンプリング周波数はいくつになるでしょうか。 ADCのサンプリング周波数を求める計算式を教えて下さい。

A:   AD5933のサンプリング周波数はMCLK/16です。

Pwr Dissとは?

Q:   ± 仕様欄に表記されている"Pwr Diss(Max) 20mW"(一例)に関して用語の意味を教えてください。

A:   Pwr Diss(Max) 20mW ですが、Power Dissipationの略表示となっており、パラメータとしては消費電力となります。

ICの寿命や製品保証の資料は?

Q:  ± ICの寿命・製品保証に関する資料はありますか。故障率でも結構です。

A:   弊社で供給しております半導体製品の一般的な信頼性データは、弊社Webサイトから検索することが出来ます。また品質保証に関する資料等もこのサイトから検索することが出来ます。品質&信頼性のサイトから信頼性データや信頼性ハンドブック、FITレート、技術資料などをご覧ください。

外形寸法図のBSCとは?

Q:   ± データシーとの外形図に記されている「BSC」とは、どのような意味でしょうか。

A:    BaSiCの略です。公称値という意味です。

1MSPS以下でのサンプリング

Q:大きな容量値を低周波数で測定したいのですが、可能でしょうか。

A:AD5933のサンプリング周波数はMCLK/16です。サンプリング速度は1MHzなので、低い周波数での測定には周波数分解能が粗くなります。サンプリング速度を落とすためには外部からのクロックを使用します。AN-843というアプリケーションノートを参考にしてください。