ループ内のハードウェア(HIL)
パフォーマンス要件、安全認証、またはソフトウェア回帰テストのいずれの場合でも、テストシステムは、テスト対象のデバイスまたはデバイスのクラスに合わせて独自に調整する必要があります。ループ内のハードウェアは、電子制御ユニット(ECU)などの複雑なリアルタイムシステムをテストするための手法であり、信号帯域幅と可能な限り低い遅延に最適化された高精度信号を取得して励起することにより、精度と速度を要求します。これは、実際の設定で制御システムを検証して、非常に高いレベルの安全性と堅牢性を確保するために使用されます。たとえば、自動車のコンテキストでは、これは、電子式パワーステアリングシステム、サスペンションシステム、バッテリー管理システム、またはその他の車両サブシステム用の電子制御ユニットである可能性があります。
ハードウェアインザループ(HIL)の課題
テスト対象デバイス(DUT)を適切に検証するには、テストに使用されるハードウェアインザループシミュレーターの精度、精度、帯域幅が高く、遅延が短く、実際のシナリオをDUTにエミュレートできる必要があります。 。
ECUがより強力になるにつれて、このタスクはより困難になります。高電力スイッチの動作を再現する必要があるため、効率などの新しい市場要件を満たすには、より複雑なモデルが必要です。モデルの複雑さが増すにつれて、計算時間も増し、その結果、アナログ入力と出力のより高速な取得と励起が求められます。
これらは、今日業界が直面していると私たちが特定した最大の課題のいくつかです。
- 複数の信号の同期:アナログセンサーをシミュレートするだけでなく、他のデジタル信号と同期します
- 正確なアナログ応答:アナログI/Oは、より複雑な信号を受け入れて複製する必要があります
- モデルの複雑さ:モデルに追加された2次および3次効果
- 汎用性: 複数のI/O範囲に対応
- アナログレイテンシーの削減:特に低速側では、すべてのティックが重要です
Hardware-in-the-Loop(HIL)ソリューション
ADIの信号調整、データ取得、信号生成、および分離の幅広いポートフォリオにより、HILシミュレータ用の最適化されたソリューションが可能になります。重要な要件は、非常に低い遅延を維持しながら、電圧または電流のいずれかの形式で広範囲の入力信号を測定または生成することです。システム要件が低電力、低ノイズ、高密度、または高精度を要求するかどうかにかかわらず、ADIは完全なシグナルチェーンソリューションを備えています。以下のリンクは、さまざまなシグナルチェーンオプションと推奨製品および技術資料を強調しています。
電流および電圧の測定
一般的なアプリケーション要件は、広い帯域幅で電圧または電流信号を測定することです。シグナルチェーンには、多くの場合、保護、単一、電圧リファレンス、電力管理、および絶縁が含まれます。以下は、ACおよび/またはDC分析をサポートするためにノイズ性能用に最適化された最大1MHzの広帯域幅を測定するためのオプションに接続します。
電流および電圧駆動
アナログ出力回路は、高速更新レートで動的信号を生成できなければなりません。電圧範囲、分解能、出力駆動強度。これらのシグナルチェーンには、多くの場合、高精度DAC、電圧リファレンス、増幅/信号調整、および出力保護が含まれます。
ハードウェア・イン・ザ・ループの主要製品

超高速、16ビット精度、電圧出力DAC
AD3542Rは、複数の出力スパン範囲を生成するように設計されており、固定の2.5Vリファレンスで動作します。AD3542Rは、2.5 V、3などの複数の電圧スパン範囲を実現するように構成できます。 V、10 V、または±5 V.

信号スケーリングを備えた統合型完全差動ADCドライバー
ADAQ23878は、高精度、高速、μModule®コンポーネントの選択、最適化、レイアウトの設計負担を設計者からデバイスに移すことにより、高精度測定システムの開発サイクルを短縮するデータ取得ソリューション。
すべてのEVの未来への道:テストの有効化&電気自動車の測定ソリューション
このウェビナーでは、ハードウェアインザループアプリケーション向けの低遅延の高精度シグナルチェーンなど、特定のユースケースの例を使用して、テストの課題のいくつかについて説明します。

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