可靠性项目

技术质量论文

归因于客户的集成电路故障之主要原因排除 (pdf)
作者：Andrew H. Olney – 依据IEEE政策转载。

真实世界的充电板模型(CBM)故障 (pdf)
经ESD协会许可转载

消除真实世界CDM故障的混合插座式与非插座式CDM测试方法 (pdf)
经ESD协会许可转载

新ESD模型：充电带模型 (pdf)
经ESD协会许可转载

在现有故障分析过程中加入主动电子束探测技术
作者：M.B. Ferrara和G.G. Owen