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特性
- 初始精度
A级： ±0.70%（最大值）
B级： ±0.35%（最大值） - 最大温度系数
A级： 50 ppm/°C
B级： 25 ppm/℃ - CLOAD = 50 nF至10 µF
- 输出电流： +4 mA/ -2 mA
- 低工作电流： 80 µA（典型值）
- 输出噪声： 6 µV p-p（1.0 V输出）
- 输入范围： 2.0 V至18 V
- 温度范围： −40°C至+125°C
- 小型、无铅TSOT-23封装
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ADR130的工作温度范围为−40°C至+125°C扩展工业温度范围，采用TSOT-23小型封装。
如需0.5 V输出，请将SET（引脚5）与VOUT（引脚4）相连。 如需1.0 V输出，请将SET（引脚5）与GND（引脚2）相连。
| ADR130系列的全部产品 | ||||
|---|---|---|---|---|
| 模型 | Vout | 精度 | 温度系数 | 千片报价 |
| ADR130A | 0.5/1.0V | ±3.5mV | 50ppm/°C | 0.97美元/片 |
| ADR130B | 0.5/1.0V | ±1.75mV | 25ppm/°C | 1.60美元/片 |
应用
- 电池供电仪器仪表
- 便携式医疗设备
- 通信基础设施设备
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ADR130
文档
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产品技术资料帮助
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参考资料
ADI 始终高度重视提供符合最高质量和可靠性水平的产品。我们通过将质量和可靠性检查纳入产品和工艺设计的各个范围以及制造过程来实现这一目标。出货产品的“零缺陷”始终是我们的目标。查看我们的质量和可靠性计划和认证以了解更多信息。
| 产品型号 | 引脚/封装图-中文版 | 文档 | CAD 符号，脚注和 3D模型 |
|---|---|---|---|
| ADR130AUJZ-REEL7 |
6-Lead TSOT
|
|
|
| ADR130BUJZ-REEL7 |
6-Lead TSOT
|
|
- ADR130AUJZ-REEL7
- 引脚/封装图-中文版
-
6-Lead TSOT
- 文档
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CAD 符号，脚注和 3D模型
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
- ADR130BUJZ-REEL7
- 引脚/封装图-中文版
-
6-Lead TSOT
- 文档
-
HTML
Material Declaration
-
HTML
Reliablity Data
- CAD 符号，脚注和 3D模型
-
Ultra Librarian
-
SamacSys
根据型号筛选
产品型号
产品生命周期
PCN
9月 7, 2017
- 17_0079
Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing
ADR130AUJZ-REEL7
量产
1月 26, 2010
- 10_0007
Halogen Free Material Change for TSOT Products
ADR130AUJZ-REEL7
量产
ADR130BUJZ-REEL7
量产
5月 27, 2009
- 06_0083
ADI Silicon Valley Second-Generation High Voltage Bipolar Process (HVBP2) Fab/Trim/Probe Transfer.
ADR130AUJZ-REEL7
量产
ADR130BUJZ-REEL7
量产
根据型号筛选
产品型号
产品生命周期
PCN
9月 7, 2017
- 17_0079
Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing
1月 26, 2010
- 10_0007
Halogen Free Material Change for TSOT Products
ADR130AUJZ-REEL7
量产
ADR130BUJZ-REEL7
量产
5月 27, 2009
- 06_0083
ADI Silicon Valley Second-Generation High Voltage Bipolar Process (HVBP2) Fab/Trim/Probe Transfer.
软件和型号相关生态系统
评估套件 2
EVAL-ADMX1002
低失真信号发生器测量模块
产品详情
ADMX1002是一款低失真正弦波和高分辨率任意波形发生器。此高性能模块展示了专有数字预失真算法，该算法将信号失真降低至可通过高性能数模转换器(DAC)和放大器实现的水平。其差分输出可设置为测试高性能模数转换器(ADC)、音频编解码器和其他音频IC和系统通常所需的共模电平。ADMX1002具有易于使用的SPI接口和小尺寸，可轻松嵌入到测试系统，或用于工作台进行测量和特性表征。
应用
- 高端音频测试
- 模数转换器特性表征和测试
- 传感器测试
- 频率响应和网络分析
- ATE
EVAL-ADMX1001
Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module with Fully Differential Input Acquisition Channel
特性和优点
- Ultra-low distortion, high-resolution source
- DC, 50Hz to 40kHz Frequency Range
- Proprietary digital pre-distortion (DPD) algorithm
- –130dBc THD @ 1kHz (typ.)
- Arbitrary waveform generation (AWG) with on-board pattern memory
- Differential (balanced) output up to 3.5VRMS
- Fast pattern switching between multiple stored waveforms
- Fully Differential input Acquisition Channel
- Small form-factor (60mm x 40mm)
- Low power, 1W typ. (quiescent)
- SPI interface for integration into test and measurement systems
产品详情
The ADMX1001 is an ultra-low distortion sinewave and high-resolution arbitrary waveform generator with an acquisition channel. This high-performance module demonstrates a proprietary digital pre-distortion algorithm that reduces signal distortion below levels that can be achieved with high-performance digital-to-analog converters (DAC) and amplifiers alone. Its differential output can be set to common-mode levels often required to test high-performance analog-to-digital converters (ADC), audio codecs, and other audio ICs and systems. The signal generator and the acquisition channel can be individually controlled using separate, easy to use, SPI interfaces - combined with the module's small-form factor, the ADMX1001 can be easily embedded into test systems, or simply used on the bench for measurement and characterization.
APPLICATIONS
- High-end audio test
- Analog-to-digital converter characterization and test
- Sensor and transducer test
- Frequency response and network analysis
- ATE