ADR03
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ADR03

超紧凑精密 2.5 V 基准电压源

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产品详情
特性
  • 超紧凑 SC70 和 TSOT 封装
  • 低温度系数
    • 8 引脚 SOIC:3 ppm/°C(典型值)
    • 5 引脚 SC70:9 ppm/°C(最大值)
    • 5 引脚 TSOT:9 ppm/°C(最大值)
  • 初始精度 ±0.1%
  • 无需外部电容器
  • 低噪声 10 μV p-p,0.1 Hz 至 10.0 Hz (ADR02)
  • 宽工作范围
    • ADR01:12.0 V 至 36.0 V
    • ADR02:7.0 V 至 36.0 V
    • ADR03:4.5 V 至 36.0 V
    • ADR06:5.0 V 至 36.0 V
  • 高输出电流 10 mA
  • 宽温度范围:–40°C 至 +125°C
  • ADR01/ADR02/ADR03 与行业标准 REF01/REF02/REF03 引脚兼容
  • ADR01、ADR02、ADR03 和 ADR06 SOIC(A 级)适用于汽车应用
    ADR03-EP 支持防务和航空航天应用(AQEC 标准)
    • 下载 ADR03-EP 数据手册 (pdf)
    • 军用温度范围 −55°C 至 +125°C
    • 受控制造基线
    • 组件/测试场所
    • 制造场所
    • 产品变更通知
    • 可应请求提供资质数据
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 ADR01、 ADR02、ADR03 和  ADR06  分别是具有高精度、高稳定性和低功耗的精密 10.0 V、5.0 V、2.5 V 和 3.0 V 带隙基准电压源。这些套件密封在微型 5 引脚 SC70 和 TSOT 封装中,另外提供 8 引脚 SOIC 版本。ADR01、ADR02 和 ADR03 的 SOIC 版本是行业标准 REF01、REF02 和 REF03 的简易替换器件1 。小尺寸和宽工作范围使得 ADR01、ADR02、ADR03 和 ADR06 基准电压源适用于通用和空间受限应用。

在配备外部缓冲器和简单电阻器网络的情况下,可以使用 TEMP 引脚来进行温度检测和近似估计。套件上提供的 TRIM 引脚用于微调输出电压。

ADR01、ADR02、ADR03 和 ADR06 是紧凑型低漂移基准电压源,可在宽电源电压范围内提供稳定的输出电压。这些套件采用 5 引脚 SC70 和 TSOT 封装以及 8 引脚 SOIC 封装,并具有 A 级、B 级和 C 级可供选择。这些套件均可在扩展的工业温度范围(−40°C 至 +125°C)内工作。采用 8 引脚 SOIC 封装的 A 级 ADR01、ADR02、ADR03 和 ADR06 适用于汽车应用。

应用

  • 精密数据采集系统
  • 高分辨率转换器
  • 工业过程控制系统
  • 精密仪表
  • 自动电池监控
  • PCMCIA 卡


1 ADR01、ADR02 和 ADR03 分别与 REF01、REF02 和 REF03 元件级兼容。不提供系统级兼容性暗示保证。ADR01、ADR02 和 ADR03 的 SOIC 版本分别与 REF01、REF02 和 REF03 的 8 引脚 SOIC 版本引脚兼容,另外具有温度监控功能。

产品技术资料帮助

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参考资料

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产品型号 引脚/封装图-中文版 文档 CAD 符号,脚注和 3D模型
ADR03AKSZ-REEL7
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产品生命周期

PCN

10月 11, 2012

- 12_0208

ADR0x and REF0x Die Revision

ADR03AKSZ-REEL7

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ADR03ARZ

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ADR03BUJZ-REEL7

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ADR03WARZ-R7

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ADR03WARZ-RL

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11月 23, 2010

- 10_0004

Halogen Free Material Change for SOIC Narrow Body Products Assembled at Amkor

ADR03ARZ

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ADR03ARZ-REEL7

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ADR03BRZ

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ADR03BRZ-REEL7

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9月 7, 2017

- 17_0079

Qualification of TeamQuest Technology Inc., Philippines as an Alternate Test Site for TC-Vos Testing

ADR03AUJZ-REEL7

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ADR03BRZ-REEL7

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1月 26, 2010

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Halogen Free Material Change for TSOT Products

ADR03AUJZ-REEL7

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产品生命周期

PCN

10月 11, 2012

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ADR0x and REF0x Die Revision

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ADR03ARZ

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ADR03ARZ-REEL7

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11月 23, 2010

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1月 26, 2010

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Halogen Free Material Change for TSOT Products

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软件和型号相关生态系统

软件和型号相关生态系统

评估套件

评估套件 2

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EVAL-ADMX1001

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

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EVAL-ADMX1001

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

Ultra-low Distortion Signal Generator Measurement Module, Fully Differential Input Acquisition Channel

特性和优点

  • Ultra-low distortion, high-resolution source
    • DC, 50Hz to 40kHz Frequency Range
    • Proprietary digital pre-distortion (DPD) algorithm
    • –130dBc THD @ 1kHz (typ.)
    • Arbitrary waveform generation (AWG) with on-board pattern memory
    • Differential (balanced) output up to 3.5VRMS
    • Fast pattern switching between multiple stored waveforms
  • Fully Differential input Acquisition Channel
  • Small form-factor (60mm x 40mm)
  • Low power, 1W typ. (quiescent)
  • SPI interface for integration into test and measurement systems

产品详情

The ADMX1001 is an ultra-low distortion sinewave and high-resolution arbitrary waveform generator with an acquisition channel. This high-performance module demonstrates a proprietary digital pre-distortion algorithm that reduces signal distortion below levels that can be achieved with high-performance digital-to-analog converters (DAC) and amplifiers alone. Its differential output can be set to common-mode levels often required to test high-performance analog-to-digital converters (ADC), audio codecs, and other audio ICs and systems. The signal generator and the acquisition channel can be individually controlled using separate, easy to use, SPI interfaces - combined with the module's small-form factor, the ADMX1001 can be easily embedded into test systems, or simply used on the bench for measurement and characterization.

APPLICATIONS

  • High-end audio test
  • Analog-to-digital converter characterization and test
  • Sensor and transducer test
  • Frequency response and network analysis
  • ATE
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EVAL-ADMX1002

低失真信号发生器测量模块

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EVAL-ADMX1002

低失真信号发生器测量模块

低失真信号发生器测量模块

特性和优点

  • 低失真、高分辨率源
    • DC至40kHz
    • 专有数字预失真(DPD)算法
    • –130dBc THD(1kHz,典型值)
    • 集成片上模式存储器的任意波形发生器(AWG)
    • 差分(平衡)输出高达3.6VRMS
  • 多个存储波形之间的快速模式切换
  • 小尺寸(60mm x 40mm)
  • 低功耗、1W(典型值、静态)
  • 用于集成到测试与测量系统中的SPI接口

产品详情

ADMX1002是一款低失真正弦波和高分辨率任意波形发生器。此高性能模块展示了专有数字预失真算法,该算法将信号失真降低至可通过高性能数模转换器(DAC)和放大器实现的水平。其差分输出可设置为测试高性能模数转换器(ADC)、音频编解码器和其他音频IC和系统通常所需的共模电平。ADMX1002具有易于使用的SPI接口和小尺寸,可轻松嵌入到测试系统,或用于工作台进行测量和特性表征。

应用

  • 高端音频测试
  • 模数转换器特性表征和测试
  • 传感器测试
  • 频率响应和网络分析
  • ATE

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