参数测量
研发实验室和自动测试系统中使用参数测量仪器对电子器件、半导体、电化学电池和材料的电气性能进行特性鉴定和测试。这些仪器能够在应用电压或电流激励时,同时执行精确的电压和电流测量。为了满足此类仪器的吞吐量和精度要求,Analog Devices 的产品组合中提供了以下产品:
- 适用于高密度系统的参数测量单元 (PMU)
- 市场上速度较快的数模转换器和模数转换器
- 恒压和恒流线性控制器
- 适用于低电平测量的高性能放大器
- 低噪声开关电源控制器
- 获得机构认可的数字隔离器
我们提供种类齐全的产品,能够让设计人员在任何性能级别针对精度、速度和密度进行优化。

特色产品 (10)
互动式信号链
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参考设计
评估板
最新优势资源
技术文章
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如何为宽带的精密信号链设计可编程增益仪表放大器
模拟对话
- 经典仪表放大器(PGIA)的新版本提供更高的设计灵活性
- Common-Mode Transient Immunity
- 数字电源中的隔离—原因及方式
- 关于模拟噪声分析的11个误区
应用笔记
视频
- 利用ADI的精密宽带宽信号链加快设计速度
- LTC2387-18的ADC驱动器设计考虑因素
- AD3552R 16位、33 MUPS、多输出范围、多IO SPI DAC
- CN0534:USB供电的5.8 GHz RF LNA,带输出电源保护
- ADG7421F:低电压故障保护和检测、12 ΩRON、双通道SPST
技术指南
- MT-101:去耦技术 PDF
- MT-016: DAC基本架构III:分段DAC PDF
- MT-015: DAC基本架构II:二进制DAC (Rev. A) PDF
- MT-093:散热设计基础 PDF
- MT-014:DAC基本架构I, DAC串和温度计(完全解码)DAC PDF