技术质量论文

真实世界充电板模型(CBM)故障 (pdf, 490,385 bytes)
经ESD协会许可再版。

用来消除真实世界CDM失效的综合插座式和非插座式CDM测试方法 (pdf, 1,386,512 bytes)
经ESD协会许可再版。

新ESD模型：充电条模型 (pdf, 716,568 bytes)
经ESD协会许可再版。

用于光学检测和电子束分析的金属交叉切片微电子封装技术
作者：Robert James Burgoyne

活性电子束探测技术对现有失效分析工艺的补充
作者：M.B. Ferrara and G.G. Owen

TQM工具在战略性业务计划中的应用
作者：T.R. Narasimhan & Elaine Trotter
经质量管理中心许可再版。