优化高分辨率DAC的DC测量
作者:Rob Whitehouse 在讨论一种具有22 bit线性度和存在1.4 μV最低有效位噪声的24 bit数模转换器(DAC)的时候,一位同事问到,“测试时应该如何测量微伏(μV)级的电压?”测量高分辨率直流(DC)电压是很复杂的。在测试过程中,时间就是金钱,所以这为快速、精确地完成测量提出了一项持久的挑战。 传统的最优化方法采用精密放大器电路和越来越快的测量器件,这些仍然是必需的,但是要想在最短的时间内完成最优的测量是不够的。建立时间和信号噪声之间的反比关系取决于驱动待测器件(DUT)电路的有效噪声带宽。DUT和测量仪器决定了这个系统,从而把建立时间和宽带噪声不可分割地联系在一起。 如果该电路带宽为零,那么其噪声也应为零,我们仅仅用一个样本就能进行测量。遗憾的是,这样的电路就永远不能达到稳定,那么我们也会得到100%的DC误差。因此过窄的带宽会造成很长的测量时间。 如果该电路的带宽为无限大,那么建立时间就应为零。遗憾的是,宽带噪声也为无限大,我们永远无法获得足够精度的测量。因此,快速放大器实际上会加快测量高分辨率电压所需的时间。 下面我们来探讨一下这种关系。 建立时间在测试过程中,在一个阶跃电压作用之后 DUT输出必需在预定的误差带内达到稳定。假设一个单极点阶跃响应,建立时间直接取决于带宽:
其中: 宽带噪声
以电压有效值(Vrms)为单位,并且假设服从高斯分布 其中 因为滤波器的滚降系数不是无限陡峭的,噪声在-3 dB截止带宽外的影响就变小了。有效噪声带宽就是指这个区域内的噪声。单主极点的有效噪声带宽等于其-3 dB带宽的π/2倍。 允许测量误差
其中: 建立时间与测量时间
图1的例子示出了在噪声带宽为40 nV/√Hz和测量误差为1 μV条件下的建立时间必须达到1 ppm。每个样本需要2 μs。如图所示,最佳的带宽介于10 kHz~20 kHz之间。 令Tmeas等于Ts,我们就可以从数字上得到最优的带宽:
采用上述公式,本例的最佳带宽为13.07 kHz。样本数量
为85。达到1 ppm的建立时间为168 μs。根据定义,总测量时间是建立时间的两倍,为336 μs。 其它考虑进行高分辨率测量的问题相当多,这里的讨论绝对没有涵盖全部。下面的几点考虑在解决总体问题时很重要:
测试成本要求对传统的低速、高分辨率测量进行优化。这种方法允许我们缩短测量时间并节约资金。它还可做为测试设计的一级近似。在设计周期的早期是让开发团队了解测试经费是否很高的最佳时机,例如,18 bit DAC的全部代码测试。半导体工业正处于关键时刻。未来的挑战需要高素质的测试工程师。
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