Автоматическое тестовое оборудование

Компания Analog Devices предлагает пользователям полноценную линейку решений для автоматического тестового оборудования, способных удовлетворить повышенным требованиям к тестерам современных систем на кристалле, микросхем динамической и флэш-памяти. Наша широкая линейка продуктов включает в себя электронику тестирования выводов (драйвер/компаратор/нагрузка), многоканальные ЦАП установки уровня, PPMU (параметрические измерительные модули тестирования выводов), АЦП для прецизионных измерений, а также широкий спектр ключей, мультиплексоров и КМОП схем верньерной регулировки. Вы можете ознакомиться с брошюрой, посвященной решениям компании Analog Devices для автоматического тестового оборудования.

ТАБЛИЦЫ ВЫБОРА ПРОДУКТОВ

  • Если у Вас имеются вопросы, вы можете отправить их в ATE Group.

ATE Overview

Part#
Results: 0
ConfigurationChannelsWatts Per Channel (W)VminVmaxReflection ClampsBandwidth -3dB (typ)PackagePrice* (1000 pcs.)
Назад к началу

PMU Overview

Part#
Results: 0
ChannelsPower Dissipation (typ)PMU Current Force/MeasureExtended Current RangeRange/Swing (V)InterfaceFeaturesPackagePrice* (1000 pcs.)
Назад к началу

ATE Level Setting DACs

Part#
Results: 0
# of DACsResolutionOutput RanagesVout (V p-p)minPackageConfig/Programming InterfATE Features
Default Sort is # DACs (Descending), then Resolution, Bits (Descending)
Назад к началу

Timing Generator and Formatter IC

Part#
Results: 0
Edge Refire Rate (ns)Max Sampling RateChannelsNumber of Edges per ChResolution Peak to Peak DNL (ps)Peak to Peak INL (ps)Overall Timing Accuracy Jitter (ps RMS)Average Power/ Edge Min Drive Pulse Width (nsMux Mode Supported
Назад к началу
沪ICP备09046653号
Send Feedback X
content here.
content here.

Send Feedback

Закрыть