Данные о надежности

В компании Analog Devices внедрена активная программа контроля и прогнозирования характеристик надежности, которая гарантирует наивысшее качество всех поставляемых продуктов. Analog Devices подвергает все свои технологические процессы всем основным видам испытаний надежности, испоя передовые методологии и оборудование. Результаты ускоренных тестов на устойчивость к воздействиям окружающей среды экстраполируются на стандартные рабочие условия для определения срока службы и гарантии высочайшего качества продуктов. Вы можете узнать больше, воспольоашсь приведенными внизу ссылками, которые позволяют проводить поиск по наименованию продукта или типу корпусов/технологическому процессу.

Результаты испытаний при изготовлении пластин

 

Срок службы в условиях высокотемпературного нагрева (HTOL), частота выходов из строя (FIT), среднее время наработки на отказ (MTTF).


wafer-imgУзнайте больше

 

Результаты испытаний устройств в корпусе/после сборки

Результаты климатических испытаний при повышенных давлении и температуре (PCT), результаты ускоренных стрессовых испытаний (HAST), результаты испытаний на долговечность при высокотемпературном хранении (HTS), результаты испытаний на стойкость к термоциклированию (TCT), резаты испытаний температурой, смещением и влажностью на стойкость к коррозии (THB), результаты испытаний на стойкость к термоударам (TST), результаты теста HAST без смещения.

assembly-imgУзнайте больше