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Analog Dialogue Vol.42 No.4 - 4 : 未発表論文から

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  • 8チャンネルのデータ・アクイジション
  • 電圧の異なる製品間のJTAGチェーン
  • イン・アプリケーション・プログラミング
  • 残留位相ノイズの測定
  • ウィンドウ・コンパレータのテスト
  • オフアンプの保護



  • 8チャンネルのデータ・アクイジション

    データ・アクイジション・システムに影響する主な要素は、変換速度、精度、消費電力、パッケージ・サイズ、部品コストであり、アプリケーション要件によって重要な要素は異なります。13ビット、1MSPS逐次近似型A/DコンバータAD7329と組み合わせれば、シングル・オペアンプを使って8チャンネルのデータ・アクイジション・システムを実現し、システム全体のコストとサイズを削減することができます。単純な低コスト、8チャンネルのデータ・アクイジション・システムについての記事は、「8-channel data-acquisition system uses single ADC driver(英語)」をご覧ください。

    電圧の異なる製品間のJTAGチェーン

    低消費電力のハンドヘルド機器が普及するにつれ、5V、3.3V、2.5V、1.8Vのデバイスを混合したPCボードが一般的になり、JTAGチェーンの設計が難しくなっています。設計者は動作電圧だけでなく、各電圧で動作するデバイスを配置する順番を決めなければなりません。頑丈なJTAG設計を構築するためのヒントとテクニックを提供する記事については、「Architecting a Multi-Voltage JTAG Chain(英語)」をご覧ください。

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    イン・アプリケーション・プログラミング

    ADuC702x高精度アナログ・マイクロコントローラでは、アセンブルしたプログラムをオンチップ・メモリにロードするためのシリアル・ダウンローダを利用できます。ただし、そのためには、リセット時か電源投入時にユーザが手動でピンをローに設定する必要があります。イン・アプリケーション・プログラミングを使えば、ボードに触れずにアップグレードが可能となります。ADuC703xのプログラムをアップグレードする簡単な方法は、「Implementing In-Application Programming on the ADuC702x(英語)」をご覧ください。
    アプリケーション・コードを公開しておりますので、迅速かつ簡単に実装できます。

    残留位相ノイズの測定

    残留位相ノイズの測定において、電源、入力クロック、その他の 外部ノイズ源の影響をなくすことができます。また、残留位相ノ イズ設定の属性に注目し、付加的な位相ノイズを使用してノイズ に関連する問題の原因を特定する方法を論じている記事がありま す。「Residual Phase Noise Measurement Extracts DUT Noise from External Noise Sources(英語)」をご覧ください。

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    ウィンドウ・コンパレータのテスト

    コンパレータが発明されてからまもなくして、2つのコンパレータを組み合わせたウィンドウ・コンパレータが作られるようになったのではないでしょうか。外部制御されたテスト機能をウィンドウ・コンパレータに追加して、回路が適切に機能しているかどうかをテストできます。これを実現するための簡単な方法についての記事は、「Adding Test Capability to a Window Comparator(英語)」をご覧ください。

    オフアンプの保護

    アプリケーション・エンジニアになる一番の理由は、さまざまな顧客、アプリケーション、回路、疑問に遭遇し、そのどれもが日々新しいことを学ぶ機会を与えてくれるからです。アプリケーション・エンジニアは、アナログ・デバイセズのアンプの電源オフ時の動作・仕様について、ユーザからたびたび質問を受けることがあります。この状態のアンプは時として「オフアンプ」と呼ばれます。電流が誘導する障害からアンプを保護する方法についての記事は、「Protecting Off-Amps(英語)」をご覧ください。

     

    ご質問、コメントなどございましたら、Analog Diablog™へ英語にてお寄せ下さい。

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