RELIABILITY DATA



アナログ・デバイセズは、当社が出荷するすべての製品が最高の品質をもつように信頼性モニタリングおよび予知予測プログラムを積極的に活用します。当社は最先端の設備と手法を駆使して、各プロセスであらゆる主要なクラスの信頼性テストを実施します。環境ストレス加速試験の結果から標準的な使用条件を導き出し、有効な製品寿命を予想し、業界最高水準の信頼性を備えた製品を提供します。詳細については、製品別、またはプロセス/パッケージ種類別に検索できる以下のリンク先をご覧ください。

Wafer Fabrication Data

High Temperature Operating Life (HTOL), Failures in Time (FIT), Mean Time to Fail (MTTF).

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Assembly/Package Process Data

Autoclave (PCT), Highly Accelerated Stress Test (HAST), High Temperature Storage (HTS), Temperature Cycling Test (TCT), Temperature Humidity Bias (THB), Thermal Shock Test (TST), Unbiased HAST.

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