自動試験装置

アナログ・デバイセズは、今日のSOCテスター、DRAMテスター、フラッシュメモリ・テスターなどのアプリケーションに対する厳しい要求に応えるために、必要なあらゆる機能を備えたATEシグナル・チェーン・ソリューションをお客様に提供しています。アナログ・デバイセズが提供する広範な製品ポートフォリオは、ピン・エレクトロニクス(ドライバ/コンパレータ/ロード)、多チャンネル・レベル設定用D/Aコンバータ、PPMU(パーピン計測ユニット)、精密測定用A/Dコンバータ、さまざまなスイッチとマルチプレクサ、CMOSタイミング・バーニアなどで構成されています。

ATEレベル設定DAC

アナログ・デバイセズのATEレベル設定D/Aコンバータは、ATE機能の正確な制御を実現します。2~40チャンネル、最大精度16ビットのさまざまな製品があります。

ATEの概要

アナログ・デバイセズは、今日のSOCテスター、DRAMテスター、そしてフラッシュメモリ・テスターなどのアプリケーションに対する厳しい要求に応えるために、必要なあらゆる機能を備えた自動試験装置用シグナル・チェーン・ソリューションを提供しています。

PMUの概要

アナログ・デバイセズの高性能高集積PMUには、ピンに電圧を強制的に印加して対応する電流を測定したり、電流を強制的に流して電圧を測定したりすることができるプログラマブル・モードが含まれています。

タイミング・ジェネレータおよびフォーマッタIC

アナログ・デバイセズのADATE207は4つの独立チャンネルで構成され、ATEデジタル・ピンのタイミング設定とフォーマット用に100MHzのベース・ベクトル・レートを持つ自動試験装置用の優れたソリューションです。